涂層測厚儀ED400
涂層測厚儀ED400適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
* 膜厚校正片
膜厚校正片是儀器的計量基準(zhǔn)。的膜厚校正片全部經(jīng)過技術(shù)監(jiān)督部門的檢測,附有檢測報告。這一點在國內(nèi)外儀器中都是不多見的。它保證了儀器計量的準(zhǔn)確性和可靠性。
* 探頭
測厚儀zui容易損壞的部件是探頭,本公司的對探頭做了特殊的耐久性設(shè)計,具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。
* 探頭線
由于涂鍍層測厚儀使用頻率很高,探頭線成為易損件。一般國產(chǎn)儀器的探頭用不多久就會出現(xiàn)故障,多數(shù)問題出在探頭線上。
本公司生產(chǎn)的使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線zui初用于機(jī)器人,規(guī)定可經(jīng)受幾百萬次的曲折。實踐證明,這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。
具有如下特點:
● 量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達(dá)到0~500 μm
● 精度高 測量精度達(dá)到2%
● 分辨率高 分辨率達(dá)到0.1 μm
● 校正簡便 只校正“0”和“50 μm”兩點,即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。
● 基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量誤差不大于1~2 μm
● 可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
● 穩(wěn)定性提高 采用*溫度補償技術(shù),測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
● 探頭芯壽命長 采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計,探頭芯壽命可大大延長。
技術(shù)參數(shù):
測量范圍: | 0~500 μm | |
測量精度: | 0~50 μm:±1 μm; | |
50~500 μm:±2% | ||
分 辨 率: | 0~50 μm:0.1 μm; | |
50~500 μm:1 μm; | ||
0~500 μm:1 μm(可選) | ||
使用溫度: | 5~45℃ | |
外形尺寸: | 150 mm×80 mm×30 mm | |
重 量: | 280 g |
標(biāo)準(zhǔn)配置: 主機(jī) | 可選附件 備用探頭 |