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環(huán)保,化工,電子,汽車,電氣 |
MHY-28966系列 介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對緣材料行低頻介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角（D或tanδ） 的測試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)測試儀 型號：MHY-28966
MHY-28966系列 介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
MHY-28966系列作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能成作頻率內(nèi)對緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
MHY-28966系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計算得到。
1 點(diǎn)：
◎ 頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值度和重復(fù)性。
◎ 介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1～105
2 主要標(biāo)：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測量度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
作頻率范圍
100Hz～100kHz（6個頻點(diǎn)）
度：±0.05%
20Hz～1MHz
數(shù)字合成，度：±0.02%
電容測量范圍
0.0001pF～99999μF
四位數(shù)顯
0.00001pF～9.99999F
六位數(shù)顯
電容測量基本誤差
±0.05%
±0.05%
損耗因素D值范圍
0.0001～9.9999
四位數(shù)顯
0.00001～9.99999
六位數(shù)顯
2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測試裝置（含保護(hù)電）
2.3.1 平板電容器片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合
加溫控溫裝置(選購設(shè)備)可以成zui200℃控溫度l℃加熱測試
HAD-Y918 介電常數(shù)測試裝置提供四種不同直徑測試電，能對直徑φ10～56mm，
厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電法，薄膜電法和
非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。
2.4.1 微分頭分辨率：10μm
2.4.2 zui耐壓：±42Vp（AC+DC）
2.4.3 電纜長度設(shè)置：1m
2.4.4 zui使用頻率：30MHz
2.5 頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定為頻介質(zhì)損耗測量儀
提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人藍(lán)寶石，石英玻璃，
氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。
用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
2.6 MHY-28966系列 配置
配置類型
普及型
標(biāo)準(zhǔn)型
型
電橋作頻率范圍
100Hz～100kHz
度：±0.02%
50Hz～1MHz
度：±0.02%
50Hz～1MHz
度：±0.02%
配置型號
WY2817數(shù)字電橋
+WY916B測試裝置
WY2818A頻阻抗分析儀
+WY916B三電測試裝置
WY2818A頻阻抗分析儀
+WY918測試裝置
（能適宜各種樣品）
介電常數(shù)范圍
1-10000
度：±5%
1-10000
度：±2%
1-10000
度：±2%
損耗因素D值范圍
0.0001～9.9999
四位數(shù)顯
0.00001～9.99999
六位數(shù)顯
0.00001～9.99999
六位數(shù)顯
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