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當(dāng)前位置：尤尼柯（上海）儀器有限公司>>光度計附件>> GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀
光學(xué)薄膜測量儀能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透射率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于手機(jī)屏、手機(jī)膜、手機(jī)殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護(hù)膜的透光率測量，塑料制品的透光率測量，透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀規(guī)格參數(shù)：
| 項目 | 指標(biāo) | 備注 |
| 波長范圍 | 190-800nm | 取決于光柵 |
| 光譜分辨率 | FWHM0.84@577μm狹縫 | 與波長和狹縫有關(guān) |
| 雜散光 | 0.06%@532nm,0.045%@785 | 與波長有關(guān) |
| 光源 | 20W鹵素?zé)?、氘?/span> | |
| 積分時間 | 8ms-15min | 與CDD有關(guān) |
| 電源 | 220V@50Hz | |
| USB數(shù)據(jù)線 | 1.5m帶有USBmini-B接頭的數(shù)據(jù)線 | |
| 光譜儀自動配置 | 自動配置包括讀標(biāo)定參數(shù) | |
| 數(shù)據(jù)輸出 | 灰度值隨波長或CCD像素變化（可選擇） | |
| 尺寸 | 450mm*300mm*207mm | |
| 重量 | 6.5KG | |
| 工作溫度 | 0℃~45℃ |
