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低能量離子減薄儀IV5/IV8 低能量離子減薄儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海普譽(yù)科貿(mào)有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) 低能量離子減薄儀IV5/IV8
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2017/4/21 15:07:11
  • 訪問次數(shù) 1543
產(chǎn)品標(biāo)簽

低能量離子減薄儀

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上海普譽(yù)公司是一家以經(jīng)營(yíng)實(shí)驗(yàn)室儀器,色譜配件和消耗品為主的專營(yíng)公司。主要經(jīng)營(yíng)安捷倫,WATERS,PE,熱電及島津等公司的儀器及耗材;Fortis,YMC,COSMOSIL,TSK,KROMASIL等品牌液相柱;德國(guó)Dr,美國(guó)Nu-Chek,roche,accustandard, CIL, TRC,Sigma-aldrich,日本W(wǎng)AKO,TCI等公司標(biāo)準(zhǔn)品及試劑,USP,EP等對(duì)照品。

通用儀器,色譜消耗品

 儀器簡(jiǎn)介:

儀器簡(jiǎn)要介紹: 
Technoorg 出品的Gentle Mill系列產(chǎn)品可用于zui終拋光、很容易對(duì)先前在標(biāo)準(zhǔn)高能離子減薄儀上或FIB上處理過的樣品進(jìn)行清潔及改善性能。推薦用戶選擇Gentle Mill型號(hào)來進(jìn)行樣品制備 
• 無合成產(chǎn)物 
• 幾乎無損壞 
*質(zhì)量的XTEM(截面透射電鏡),HRTEM(高分辨透射電鏡)或STEM(掃描透射電鏡)樣品制備。 
這些配置的離子減薄儀也可適用于對(duì)磨凹(凹坑)處理過的或薄的(< 25 μm)、平面的、被機(jī)械拋光的樣品進(jìn)行快速減薄。



技術(shù)參數(shù):

主要技術(shù)參數(shù): 
離子能量:100 - 2000 eV,連續(xù)可調(diào) 
離子電流密度:zui大10 mA/cm2
離子束流:7 - 90 uA,連續(xù)可調(diào)
離子束直徑:750 - 1200 um (FWHM) 
減薄速率:2000 eV離子能量及30度離子束入射角時(shí),c-Si上的減薄速率為28 um/h
樣品臺(tái) 
減薄角度:0 - 45°,電子調(diào)節(jié)步長(zhǎng)為0.1° 
計(jì)算機(jī)控制樣品平面旋轉(zhuǎn)
搖擺(0- 120°角度范圍,電子調(diào)節(jié)步長(zhǎng)為10°) 
出眾的厚度范圍:涵蓋TEM樣品厚度(30 - 200 um)



主要特點(diǎn):

主要特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn): 
Gentle Mill溫和型低能離子減薄儀(型號(hào)IV5/IV8)為的制備高質(zhì)量TEM/FIB樣品的離子減薄工作站 
● 的低能離子源:Gentle Mill離子束工作站所用的熱陰極低能離子源,具有令人矚目的技術(shù)。極其低能量的離子束確保使表面損壞及離子束誘導(dǎo)的無定形物減至zui小限度。*的離子源結(jié)構(gòu)允許高離子束電流密度。所有離子槍參數(shù)包括加速電壓及陰極電流由數(shù)字反饋回路全自動(dòng)控制,但它們?cè)跇悠分苽溥^程中也可手動(dòng)進(jìn)行改變。離子源參數(shù)的初始值既可自動(dòng)也可手動(dòng)設(shè)置,并可在電腦顯示屏中連續(xù)顯示。
● 無合成產(chǎn)物的樣品制備:Gentle Mill在低能量離子轟擊時(shí)對(duì)樣品無損壞的*能力,在應(yīng)用科學(xué)及材料研究領(lǐng)域中,給用戶提供了研究合成材料及自然材料中真實(shí)納米結(jié)構(gòu)的*工具。
● 對(duì)TEM/FIB樣品進(jìn)行清潔及后處理的快速、可靠的方法 
● 獨(dú)立用戶模式,帶有預(yù)編程設(shè)置的自動(dòng)操作:第三代Gentle Mill 3(型號(hào)IV8)為全計(jì)算機(jī)控制,通過易使用的圖形界面操作。所有減薄參數(shù)包括離子源的設(shè)置、氣流量控制、其它減薄參數(shù)如樣品移動(dòng)及傾斜角度的設(shè)置、穿孔檢測(cè)等可以被貯存,或以任意步數(shù)進(jìn)行預(yù)編程。這種全自動(dòng)特點(diǎn)減少了人為干預(yù),可制備高質(zhì)量的樣品。自動(dòng)終止功能為圖像分析模塊支持的減薄過程的光學(xué)終止(探測(cè)樣品穿孔或監(jiān)視樣品表面形貌)。Gentle Mill 3配有軟件擴(kuò)展功能,可實(shí)現(xiàn)在線,通過網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行即時(shí)故障偵測(cè)及問題排除。
● 樣品進(jìn)樣系統(tǒng):真空裝載鎖定系統(tǒng),可進(jìn)行快速樣品更換;全機(jī)械、無膠合樣品裝載機(jī)構(gòu);對(duì)XTEM樣品特別設(shè)計(jì)的鈦框架及封裝技術(shù) 
● 可應(yīng)用于工業(yè)環(huán)境研究 
● 專門設(shè)計(jì),可直接用于Hitachi的FIB-STEM/TEM系統(tǒng)3D樣品托:基于Hitachi的FIB/STEM 和Technoorg的Gentle Mill 離子束工作站,Hitachi 與Technoorg合作共同提供了一個(gè)完整方案用于特定要求低損壞樣品的制備。半自動(dòng)和全自動(dòng)的Gentle Mill型號(hào)具有低能量離子減薄及清潔能力,可用于FIB樣品制備的zui后步驟來去除無定形物或損壞的表面層。這些型號(hào)可允許直接插入Hitachi的3D FIB/STEM樣品桿,因而樣品制備時(shí)間可大大地減少。
● 分類: Gentle Mill(型號(hào)為IV5),為計(jì)算機(jī)控制的標(biāo)準(zhǔn)型號(hào);Gentle Mill 3(型號(hào)為IV8),為全自動(dòng)型號(hào);Gentle Mill Hi and Gentle Mill 3 Hi為與Hitachi FIB/STEM系統(tǒng)兼容的型號(hào)。 

 

 



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