CIPTech 微觀四點(diǎn)探針
- 公司名稱 源順科技儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào) CIPTech
- 產(chǎn)地 丹麥
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問(wèn)次數(shù) 1118
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公司產(chǎn)品主要有:X射線衍射系統(tǒng);多功能穩(wěn)定度分析儀 ;奈米顆粒大小分析儀;光電制造和檢測(cè)系統(tǒng);粘度分析系統(tǒng);粒度及微流變分析系統(tǒng);數(shù)字全析顯微鏡;呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析;接觸角及表面張力分析儀;沾筆式納米制程技術(shù);在線粘度計(jì);原子薄膜沉積儀。
* MFPP & M4PP:四點(diǎn)或多點(diǎn)奈米探針
微觀四點(diǎn)探針 M4PP ,比傳統(tǒng)的四點(diǎn)探針的間距小三個(gè)數(shù)量級(jí),利用硅微加工技術(shù)加工而成。 CAPRES 可以提供間距為 5, 10, 15, 20, 25 和 30 微米的探針。
這種探針技術(shù)適用于材料微觀電性能的表征,是半導(dǎo)體和薄膜工業(yè)質(zhì)量控制的理想工具。它們也可被用于研究,例如對(duì)多晶材料中單晶?;騿萎牭碾妼?dǎo)率進(jìn)行成像?;蛘咴摷夹g(shù)可用于在超高真空 UHV 下,清潔硅片由于表面重構(gòu)造成的微觀電子輸送的改變。這項(xiàng)技術(shù)是 MIC 和日本東京大學(xué)物理系合作的部份結(jié)果。
CAPRES 現(xiàn)正致力于為客戶的特殊要求定制探針,可以制作間距小至 1.5 微米的探針。
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