BX-Y1228B 半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀
- 公司名稱(chēng) 北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) BX-Y1228B
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/5/15 9:04:10
- 訪問(wèn)次數(shù) 1381
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 類(lèi)型 | 其他 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,綜合 |
關(guān)鍵詞:
四探針測(cè)試儀 探針測(cè)試機(jī) 半自動(dòng)四探針測(cè)試儀 數(shù)字四探針測(cè)試儀 四偵針觸屏測(cè)試儀
產(chǎn)品用途:半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀
四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測(cè)量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式或手動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式,同一位置的重復(fù)測(cè)試或多點(diǎn)的面電阻測(cè)量,報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
儀器特點(diǎn):半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀
晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量;選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片;新型電極設(shè)計(jì),如電鍍銅電阻測(cè)量等;半導(dǎo)體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽(yáng)能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
技術(shù)參數(shù):
規(guī)格型號(hào) | BX-Y1228B |
1.電阻 | 10-4~1×107Ω |
2.方塊電阻 | 10-4~1×107Ω/□ |
3.電阻率 | 10-5~2×108Ω-cm |
4.測(cè)試電流 | 10mA ---200pA |
5.電流精度 | ±2% |
6.電阻精度 | ≤10% |
7.PC軟件操作 | PC軟件界面:電阻、電阻率、電導(dǎo)率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、數(shù)據(jù)管理分析:過(guò)程數(shù)據(jù),大、小值,均值,方差,變異系數(shù),樣品編號(hào),測(cè)試點(diǎn)數(shù)統(tǒng)計(jì)報(bào)表生成等 |
8.探針范圍選購(gòu): | 探針壓力為100-550g;依據(jù)樣品接觸需要手動(dòng)調(diào)節(jié) |
9.探針 | 針間絕緣電阻:≥1000MΩ;機(jī)械游移率:≤0.3% 圓頭銅鍍金材質(zhì),探針間距1mm;2mm;3mm選配,其他規(guī)格可定制 |
10.可測(cè)晶片 尺寸選購(gòu) | 晶圓尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm); 方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm |
11.分析模式 | 自動(dòng)或手動(dòng)單點(diǎn)模式 |
12.加壓方式 | 測(cè)量重復(fù)性:重復(fù)性≤3% |
13.防護(hù)功能 | 具有限位量程和壓力保護(hù);誤操作和急停防護(hù);異常警報(bào) |
14.測(cè)試環(huán)境 | 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境 |
15.電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<100W |
16.選購(gòu)項(xiàng)目 | 電腦和打印機(jī) |
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