渦流檢測(cè)

渦流技術(shù)
渦流檢測(cè)（ECT）是一種用于對(duì)金屬部件進(jìn)行無(wú)接觸檢測(cè)的技術(shù)。在交流電的激勵(lì)下，探頭在被檢部件中感應(yīng)出渦流。任何能使渦流改變的不連續(xù)性或材料性能的變化都會(huì)被探頭檢測(cè)出來(lái)，并被視為潛在的缺陷。

多年來(lái)，探頭技術(shù)和數(shù)據(jù)處理取得了不斷的進(jìn)步，現(xiàn)在渦流技術(shù)被*為是一種快速、簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確的技術(shù)。這正是航空、汽車、石油化工以及電力生產(chǎn)等工業(yè)部門廣泛應(yīng)用渦流技術(shù)，檢測(cè)諸如：鋁、不銹鋼、銅、鈦、黃銅、鉻鎳合金（Inconel®），甚至碳鋼等材料表面或近表面缺陷的原因。

渦流的優(yōu)勢(shì)
渦流具有下列優(yōu)勢(shì)：

• 是一種快速、簡(jiǎn)單可靠的檢測(cè)技術(shù)，用于檢測(cè)導(dǎo)電材料表面或近表面的缺陷。
• 可用于測(cè)量材料的電導(dǎo)率。
• 用于非導(dǎo)電涂層的測(cè)量。
• 使用高速旋轉(zhuǎn)掃查器和表面探頭對(duì)孔洞進(jìn)行檢測(cè)。

渦流探頭
Olympus NDT標(biāo)準(zhǔn)渦流探頭有以下各種類型：

• 螺栓孔探頭
• 各種不同形狀和配置的表面探頭
• 低頻Spot（點(diǎn)狀）和Ring（環(huán)狀）探頭
• Sliding（滑動(dòng)）探頭
• Wheel（輪式）探頭
• 電導(dǎo)率探頭
• 用于特殊應(yīng)用的特制探頭

根據(jù)應(yīng)用要求，可以加工制造有EDM槽的參考標(biāo)準(zhǔn)試塊。

渦流檢測(cè)使用的探頭為銅線繞制而成的線圈。線圈形狀可以變化，以更好的適用于特定的應(yīng)用。

a- 在選定的頻率下，通過(guò)線圈的交流電在線圈周圍產(chǎn)生磁場(chǎng)。
b- 當(dāng)線圈靠近導(dǎo)電材料時(shí)，材料中產(chǎn)生感應(yīng)渦流。
c- 如果導(dǎo)電材料中的缺陷干擾了渦流流通，探頭的磁耦合會(huì)發(fā)生改變，通過(guò)測(cè)量線圈的阻抗變化可以解讀缺陷信號(hào)。

表面處理簡(jiǎn)單，無(wú)需去除表面涂層就可以對(duì)部件進(jìn)行檢測(cè)。這是液體滲透或磁粉檢測(cè)不具備的優(yōu)勢(shì)。

請(qǐng)了解有關(guān)我們渦流探頭的更多信息

渦流軟件

阻抗平面圖和帶狀圖顯示

• 用戶可選擇屏幕持續(xù)的時(shí)間。
• 參考信號(hào)覆蓋圖可保持在屏幕上，便于對(duì)信號(hào)進(jìn)行解讀。
• 在凍結(jié)模式下可對(duì)信號(hào)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)或做增益調(diào)整，而無(wú)需始終將探頭固定于工件上。
• 縮放和*頁(yè)面顯示調(diào)整功能。

C掃描表面映射圖

• 支持兩個(gè)編碼器輸入，可連接多種掃查器
• 帶阻抗平面圖和帶狀圖的實(shí)時(shí)C掃描成像顯示。

多頻操作和自動(dòng)混頻能力

• 高達(dá)8個(gè)頻率的操作（1個(gè)通道：8個(gè)頻率；2個(gè)通道：4個(gè)頻率；4個(gè)通道： 2個(gè)頻率）
• 自動(dòng)混頻能力

高級(jí)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理

• 3個(gè)可被定義為不同形狀的報(bào)警器，可激活指示燈、蜂鳴器或TTL輸出。
• 高通、低通和濾波器（帶有IIR和FIR濾波功能）。

報(bào)警

• 用戶可選報(bào)警（扇形、長(zhǎng)方形、環(huán)形）的整個(gè)范圍。
• 設(shè)置簡(jiǎn)單、快捷。
• 報(bào)警輸出可被*控制。

渦流報(bào)告

• 報(bào)告創(chuàng)建簡(jiǎn)單快捷。
• HTML報(bào)告格式具有很大的靈活性，可通過(guò)電子郵件快速傳送，并可在任何Web瀏覽器上觀看。
• 預(yù)先定義及用戶定制的報(bào)告。