微位移測量激光干涉儀(型M800,德國JENAer公司生產,*)
- 公司名稱 上海貝丁漢工業(yè)自動化設備有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地 德國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2018/5/19 11:48:58
- 訪問次數(shù) 1409
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產品功能
ZLM800微位移測量激光干涉儀——雙頻激光干涉儀,主要用于各種平臺和部件的微位測量、各種擺鏡角度變化量的監(jiān)測、運動平臺位移量和角度變化的檢測、光刻機幾何量的測量、數(shù)控機床幾何量的測量等,zui多可實現(xiàn)六軸聯(lián)動。也可通過位移+偏擺+俯仰的三角關系檢測物體的振動變化。
1.納米級的多軸聯(lián)動位移、速度、加速度的動靜態(tài)測量分析及運動控制環(huán)同步測量校準;
2.同步實時測量多軸聯(lián)動驅動部件的俯仰、扭擺、滾動的角位移變化, X-Y-Z 軸的聯(lián)動插補位移誤差及驅動匹配誤差分析;
3.納米級振動的多軸向同步數(shù)據采集測量和分析。
性能優(yōu)勢 技術參數(shù)
32 Bit (實時時間)
Dt » 20 ns
應用案例
ZLM800部分光路圖示例
從X、Y和Z方向同時測量位移變化,其中X和Y在一個水平層面上
資料下載
復雜光路測量的應用.pdf
系統(tǒng)應用簡介.pdf