ST8000光學(xué)薄膜測厚儀
- 公司名稱 北京燕京電子有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2017/7/13 0:21:06
- 訪問次數(shù) 794
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等離子,清洗機微小信號測量儀;頻率特性分析儀;信號發(fā)生器;高速雙極型放大器;生體計測系統(tǒng);濾波器;計測系統(tǒng);LCR儀表;AE計測裝置;微小信號測量儀;鎖相放大器;鎖相電壓表;超低噪聲放大器;前置放大器;隔離放大器;交流電源;變頻電源;仿真電源;功率放大器;可編程濾波器;低噪聲放大器
ST8000光學(xué)薄膜測厚儀是把UV-Vis光照在測量對象上,利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導(dǎo)電體薄膜現(xiàn)場,特別在半導(dǎo)體及有關(guān)Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。
ST8000光學(xué)薄膜測厚儀產(chǎn)品特性
1) 因為是利用光的方式,所以是非接觸式,非破壞式,不會影響實驗樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測量迅速正確,且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)用于特殊領(lǐng)域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a