YB580-X 大功率絕緣柵雙極晶體管測試儀
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 西安誼邦電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 YB580-X
- 產(chǎn)地 西安是太白南路263號
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2018/4/8 10:20:04
- 訪問次數(shù) 553
產(chǎn)品標(biāo)簽
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)
大功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)
IGBT測試系統(tǒng)
場效應(yīng)管測試儀
晶體管測試儀
光電耦合器測試儀
繼電器測試儀
高速大功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)
我公司科研人員經(jīng)過連續(xù)技術(shù)攻關(guān), 在原有YB6500半導(dǎo)體分立器件自動測試系統(tǒng)基礎(chǔ)上, 自行研發(fā)出*臺igbt測試儀,圓滿解決了功率IGBT等新型半導(dǎo)體器件的全參數(shù)測試難題,*了國內(nèi)在半導(dǎo)體自動測試領(lǐng)域的空白,該項產(chǎn)品綜合技術(shù)指標(biāo)達(dá)到水平。
目前我公司提供的該項新產(chǎn)品采用模塊式功放結(jié)構(gòu), 主極電流400A/500A/1000A/1250A可選, 2500A/5000A選項可以根據(jù)用戶需要定制。
該產(chǎn)品可測IGBT參數(shù)包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,rCE等全直流參數(shù), 所有小電流指標(biāo)保證1%重復(fù)測試精度, 大電流指標(biāo)保證2%以內(nèi)重復(fù)測試精度, 達(dá)到目前國外進(jìn)口同類產(chǎn)品水平。
絕緣柵晶體管、IGBT測試參數(shù)及精度
電參數(shù)名稱 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 分辨率 | 精度 |
ICES IGESF IGESR | 0.10V- 2000V 0.10V - 20V(80V)(2) | 100nA(100pA)(1) - 50mA 100nA(100pA)(1)- 3A | 1nA(50pA)(1) | 1%+10nA+20pA/V (1%+200pA+2pA/V)(1) |
BVCES | 0.1V-1000V- 1400V - 1600V | 100μA - 200mA -100mA -50mA | 5mV | 1%+100mV |
VGETH | 0.10V- 20.0V(80V)(2) | 100nA- 3A | 5mV | 1%+10mV |
VCESAT ICON VGEON VF GFS(混合參數(shù)) | VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V | IC: 10μA-1250A - 1250A IGE、IF: 100nA - 10A | 5mV | V: 1%+10mV IC,IF: 1%+100nA IGE: 1%+5nA |
(1) 需要YB550選件
(2) 需要柵極80V選件
該產(chǎn)品可針對目前封裝的多單元IGBT特征, 根據(jù)用戶需要提供4/ 8/ 20單元掃描測試適配器, 從而實現(xiàn)多單元封裝器件的一次性全參數(shù)測試.與進(jìn)口測試系統(tǒng)相比, 該產(chǎn)品可同時對各種功率的其它10-18多類半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行全參數(shù)測試, 具有更高的使用效率。與國外同類產(chǎn)品相比, 該產(chǎn)品具有更高的性能價格比和國外廠家不能做到的優(yōu)質(zhì)售后服務(wù)。
說明:1.上述所列類別包括各大、中、小功率半導(dǎo)體分立器件及其組成的陣列、組合、表貼器件
2.測試方法符合GB/T 15651.2-2003標(biāo)準(zhǔn)、
GB/T 15651.3-2003標(biāo)準(zhǔn),
GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法之標(biāo)準(zhǔn);
3.提供上述各類器件測試所用的不同封裝形式的測試夾具和測試適配器。
4.可以定做各種陣列、組合封裝、表貼器件的測試夾具。
5.幫助用戶開發(fā)各種器件的測試程序。
大功率半導(dǎo)體測試系統(tǒng)全國代理商招募中,
;楊
:
:www.ybdzkj.cn