菲希爾XULM240 X射線測厚儀

Fischer xulm 240 X射線熒光鍍層測厚儀的比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。如同所有的Fischerscope x-ray儀器一樣，本款儀器有著出色的精-確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需要的時間和精力。依靠菲希爾Fischer公司的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固態(tài)和液態(tài)的成分以及測量樣品的鍍層厚度。Fischer xulm 240x射線鍍層測厚儀配備了微聚焦x射線管以及可電動切換的視準(zhǔn)器和基本濾片，因此更適合對微小型工件進行測量。

X射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技術(shù)規(guī)格：

1、單性金屬鍍層厚度測量。

2、合金鍍層厚度測量。

3、雙鍍層厚度測量。

4、雙鍍層(其中一層是合金)厚度測量。

5、三鍍層厚度測量。

6、測量小區(qū)域：測量點大小約0.09x0.09 mm。

6、測量厚度精度：當(dāng)Au厚度大于0.1μm時，有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)情況下<±5%,無標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)情況下<±10%。

測量厚度精度=(測試10次的平均值-真值)÷真值×(真值為校驗標(biāo)準(zhǔn)片證書顯示值，測試點為同一點)

儀器波動率：COV<5% 。

COV=(S/10次平均值)×(其中S為標(biāo)準(zhǔn)偏差)