TSE-480F-2P兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱快速?zèng)_擊

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、高低溫沖擊試驗(yàn)箱可選擇二箱式或三箱式。

2、二箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)兩部分，測(cè)試產(chǎn)品置于提籃中，沖擊時(shí)提籃將測(cè)試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行沖擊，測(cè)試產(chǎn)品為動(dòng)態(tài)式

3、三箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品靜止。采用之蓄熱，蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)完成冷熱溫度沖擊測(cè)試可獨(dú)立設(shè)定高溫，低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二箱或三箱之功能并具有高低溫試驗(yàn)箱的功能。

4、冷卻采用二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式

TSE-480F-2P兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱快速?zèng)_擊

主要是用來(lái)測(cè)試電子元件的電容做高溫、低溫迅速?zèng)_擊試驗(yàn)所引起的物理變化與傷害。其瞬間轉(zhuǎn)換的溫度在5分鐘以?xún)?nèi)，轉(zhuǎn)換時(shí)間快達(dá)10秒鐘，反復(fù)在高溫極低溫之間的連續(xù)沖擊試驗(yàn)可檢測(cè)樣品所能忍受的程度。特別適合LED、光電、電子、通訊等行業(yè)，目前市場(chǎng)銷(xiāo)量較大的是顯示屏及觸摸屏行業(yè)需求廣泛。常用于電子與信息技術(shù)行業(yè)、新材料及應(yīng)用技術(shù)行業(yè)、制造技術(shù)行業(yè)、航空航天技術(shù)行業(yè)、產(chǎn)業(yè)園區(qū)的大中小企業(yè)實(shí)驗(yàn)室、品質(zhì)部、研發(fā)部等部門(mén)。

實(shí)驗(yàn)箱沖擊溫度：高溫 +60～150℃，低溫 （-10～ -40℃） （-10～ -55℃）（ -10～ -65℃）（可選擇其中一個(gè)低溫配高溫）

高溫儲(chǔ)溫箱高溫范圍可達(dá)：+60 ~200℃. 

低溫儲(chǔ)溫箱低溫范圍可達(dá)：-10℃~-75℃ 

高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10S

風(fēng)門(mén)啟動(dòng)時(shí)間：≤3S 

高低溫恢復(fù)時(shí)間：3~5min（非線(xiàn)性空載下）

預(yù)冷區(qū)降溫速度： ≥2℃/min（非線(xiàn)性）

預(yù)熱區(qū)升溫速度： ≥3℃/min（非線(xiàn)性）

控制精度：溫度±0.2℃（指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）

溫度波動(dòng)度：≤0.5℃（溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的一半）

溫度均勻度：≤2.0℃（溫度均勻度為每次測(cè)試中實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）