美國Nanovea 三維表面形貌儀 HS1000P 產(chǎn)品關(guān)鍵詞:Nanovea三維表面形貌儀;美國nanov;表面形貌儀;nanovea三維形貌儀;三維形貌儀國外廠商
參考價 | ¥ 840000 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市科時達電子科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/11/4 20:36:18
- 訪問次數(shù) 25
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三維表面形貌儀HS1000P
HS1000型三維表面形貌儀是一款高速的三維形貌儀, 高掃描速度可達1m/s,采用的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
產(chǎn)品特性
采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級的分辨率
測量具有非破壞性,測量速度快,度高
測量范圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…);
尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
不受樣品反射率的影響
不受環(huán)境光的影響
測量簡單,樣品無需特殊處理
Z方向,測量范圍大:為27mm
主要技術(shù)參數(shù)
掃描范圍:400mm×600mm(大可選600mm*600mm)
掃描步長:5nm
掃描速度:1m/s
Z方向測量范圍:27mm
方向測量分辨率:2nm
產(chǎn)品應(yīng)用
MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料,光學(xué)元件、陶瓷和材料的研發(fā)
主要用于
--生產(chǎn)現(xiàn)場三維形貌測試的理想選擇
--高速三維表面形貌檢測
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