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GNR 無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀
- 公司名稱 愛(ài)恩跡科技(廣州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) GNR
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/11/1 21:47:33
- 訪問(wèn)次數(shù) 64
無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法
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CAS | GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法 | 純度 | GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法 |
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分子量 | GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法 | 分子式 | GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法 |
供貨周期 | 一周 | 規(guī)格 | GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法 |
貨號(hào) | GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源,綜合 |
主要用途 | GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法 |
GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法
GB/T 7704-2017
GNR,無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定儀 / 奧氏體分析儀,無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法
GB/T 7704-2017
憑借 35 年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn),意大利GNR 成為光學(xué)發(fā)射光譜儀和 XRD/TXRF 領(lǐng)域的高級(jí)分析儀器全球市場(chǎng)制造商,提供相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備及開(kāi)發(fā)各種應(yīng)用,并在全球范圍內(nèi)提供咨詢和客戶支持。
GNR 設(shè)計(jì)和生產(chǎn) X 射線衍射儀(XRD)和 X 射線熒光光譜儀(XRF),用于研究學(xué)術(shù)和工業(yè)應(yīng)用中的材料結(jié)構(gòu)和元素組成。
GNR 總部位于意大利西北部皮埃蒙特大區(qū)諾瓦拉省的 Agrate Conturbia
高質(zhì)量的產(chǎn)品和服務(wù)是 GNR 的核心價(jià)值。
我們致力于打造的質(zhì)量體系,持續(xù)改進(jìn)是保證 GNR 符合質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn) ISO9001 的根本。
關(guān)于殘余應(yīng)力/ 奧氏體
殘余應(yīng)力是指在沒(méi)有外部施加力或進(jìn)行熱處理的情況下,在樣品內(nèi)部在的應(yīng)力。換句話說(shuō),殘余應(yīng)力被視“在所有施 加的力被移除后,結(jié)構(gòu)內(nèi)部的應(yīng)力”。 由于多種原因,殘余應(yīng)力可能會(huì)出現(xiàn)在任何機(jī)械結(jié)構(gòu)中。
制造過(guò)程很容易產(chǎn)生殘余應(yīng)力。通常,所有制造和制造過(guò)程(例如鑄造、焊接、機(jī)械加工、模制、熱處理、彎曲、軋制或鍛造過(guò)程中的塑性變形)都會(huì)將殘余應(yīng)力引入到樣品中。
殘余應(yīng)力不能通過(guò) X 射線直接測(cè)量。 在 X 射線衍射中,觀察到沿特定方向的晶體平面的變形(應(yīng)變)。由于材料的彈性理論,對(duì)應(yīng)于該平面的峰位移的多少與應(yīng)力相關(guān)。
X 射線衍射適用于晶體材料,尤其是金屬,也適用于陶瓷。 它可以測(cè)量絕對(duì)應(yīng)力,而不需要無(wú)應(yīng)力的樣品或標(biāo)樣進(jìn)行校準(zhǔn)。
奧氏體是高溫下存在于鋼中的面心立方(FCC)相。冷卻后,大部分鋼轉(zhuǎn)變?yōu)殍F素體(體心立方(BCC))或馬氏體(體心四方體(BCT)相)。根據(jù)冷卻速率,一定百分比的鋼(通常為 0-40%)保留為奧氏體。因此,稱其為“殘余奧氏體”。
•鋼的硬化需要加熱到奧氏體相,然后淬火到室溫以產(chǎn)生硬馬氏體相。
•殘留奧氏體含量的準(zhǔn)確測(cè)量對(duì)鋼鐵行業(yè)熱處理工藝的開(kāi)發(fā)和控制很重要。
•X 射線衍射可提供有關(guān)相含量的有用定量信息,可用于分析具有足夠結(jié)晶度的所有材料。 此功能用于確定殘余奧氏體。
X 射線衍射被認(rèn)為是確定鋼中殘余奧氏體含量的準(zhǔn)確方法。。
關(guān)于 EDGE
EDGE 是便攜式的 Theta/Theta X 射線衍射儀:它允許對(duì)生產(chǎn)樣品和標(biāo)樣進(jìn)行可靠的測(cè)量,以確定殘余應(yīng)力,殘余奧氏體以及研究合金的結(jié)構(gòu)和相組成。
儀器符合 ASTM E915,UNI EN 15305(殘余應(yīng)力標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范)和 ASTM E975(殘余奧氏體標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范) 。EDGE 包括利用便攜性和輕便性進(jìn)行便攜式 X 射線衍射測(cè)量殘余應(yīng)力和殘余奧氏體所必需的部件,設(shè)計(jì)初衷為針對(duì)實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)使用的制造過(guò)程中的質(zhì)量保證和質(zhì)量控制實(shí)踐的一種快速,可靠的解決方案。
它易于使用,但同時(shí)又能夠滿足大多數(shù)客戶的復(fù)雜檢測(cè)要求。
•在標(biāo)準(zhǔn)版本中,EDGE 的測(cè)量單元安裝在堅(jiān)固的鋁支架結(jié)構(gòu)上,該支架結(jié)構(gòu)可容納 XRD 測(cè)角儀,檢測(cè)器,X 射線管和激光器。
•框架的設(shè)計(jì)允許所有必要的移動(dòng),以實(shí)現(xiàn)極大化的分析性能,可以確保 Z 軸,Phi 和 2 個(gè)傾斜度的 4 個(gè)自由度。
•所有的相關(guān)控件都安裝在單獨(dú)的控制箱中。
•該系統(tǒng)可以使用標(biāo)準(zhǔn)電源以及電池供電。
•無(wú)需循環(huán)水冷系統(tǒng)。
X 射線管
•低功率 X 射線管無(wú)需任何水冷機(jī)即可使用 EDGE。
•標(biāo)配了易于更換的 0.5、1 和 2 mm 毛細(xì)管直徑準(zhǔn)直器。
•可選配具有不同光斑尺寸的特殊準(zhǔn)直器。
用戶無(wú)需任何特殊工具即可輕松更換 X 射線管
檢測(cè)器
•EDGE 配備了 80 mm 半徑的 Theta/Theta 測(cè)角儀。
•GNR 采用瑞士 DECTRIS 的 Mythen 系列檢測(cè)器。該線性硅條檢測(cè)器基于單光子計(jì)數(shù)技術(shù)可提供無(wú)噪聲性能,高強(qiáng)度測(cè)量和快速數(shù)據(jù)采集。
•高效的一維多帶檢測(cè)器可同時(shí)捕獲較大的角度范圍,并將測(cè)量時(shí)間從數(shù)小時(shí)縮短至數(shù)分鐘。緊湊的風(fēng)冷免維護(hù)檢測(cè)器。
•通過(guò)設(shè)置適當(dāng)?shù)哪芰块撝祦?lái)抑制熒光背景。
檢測(cè)器激光
激光用來(lái)幫助調(diào)整樣品到射線的距離,以避免樣品與測(cè)量系統(tǒng)之間發(fā)生碰撞。該裝置的主要優(yōu)點(diǎn)是:
•儀器校準(zhǔn)過(guò)程所花費(fèi)的時(shí)間極少。
•無(wú)需任何樣品制備,即可測(cè)量具有非常規(guī)幾何形狀的組件。激光精度在 100+/-5mm 測(cè)量范圍內(nèi)優(yōu)于 10μm。
檢測(cè)器電池
EDGE 系統(tǒng)的便攜性還可以通過(guò)電池系統(tǒng)來(lái)確保,該系統(tǒng)在不插入主電源的情況下,可以在全操作模式下自主工作大約 2 小時(shí),同時(shí)在運(yùn)行期間也可以對(duì)電池充電。
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