HD-G30 葉面積指數(shù)測定儀
參考價(jià) | ¥ 23500 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 山東霍爾德電子科技有限公司
- 品牌 霍爾德?電子
- 型號 HD-G30
- 產(chǎn)地 歐龍科技園
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/10/31 16:15:31
- 訪問次數(shù) 120
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 感應(yīng)波長范圍 | 400nm~700nm |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 2萬-5萬 | 儀器類型 | 便攜式 |
儀器原理 | 圖像分析法 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,農(nóng)業(yè) |
用途
葉面積指數(shù)測定儀根據(jù)各種圖像處理手段提取多個(gè)角度的冠層間隙率,采用裝配魚眼鏡頭的相機(jī)從樹冠下向上拍攝冠層照片,利用間隙率參數(shù)來反演出各種冠層參數(shù),導(dǎo)田園合理施肥、現(xiàn)代化農(nóng)場高效管理提供可靠的科學(xué)依據(jù),廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)、植物等科學(xué)研究和生產(chǎn)指導(dǎo)。
測試原理與方法
葉面積指數(shù)測定儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過冠層孔隙率的測定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下,植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法,該方法是各類方法中最準(zhǔn)確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。
技術(shù)指標(biāo)
1.可測量指標(biāo):
葉面積指數(shù)
葉片平均傾角
聚集指數(shù)1
聚集指數(shù)2
樹冠開闊度
天空散射光透過率
不同太陽高度角下的植物冠層直射輻射透過率(間隙率透光率)
不同太陽高度角下冠層的消光系數(shù)
葉面積密度的方位分布(不透光率)
光合有效輻射(PAR)
2.鏡頭角度:180°
3.分辨率:2592×1944
4.測量范圍:天頂角由0°~90°(180°魚眼鏡頭)可分割成十個(gè)區(qū)域,方位角360°亦可分割成十個(gè)區(qū)域
5.PAR感應(yīng)范圍:感應(yīng)光譜400nm~700nm
6.測量范圍0~3000μmol/㎡•S
7.分析軟件:植物冠層分析系統(tǒng)
8.重量:500g
9.工作及存儲環(huán)境:-10℃~55℃≤85%相對濕度
10.傳輸接口:USB