PZ-WLI-150 白光干涉3D形貌測量儀
- 公司名稱 北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司
- 品牌 品智創(chuàng)思
- 型號 PZ-WLI-150
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/10/27 19:38:18
- 訪問次數(shù) 141
聯(lián)系方式:劉經(jīng)理13439993923 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 15萬-20萬 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,制藥 |
產(chǎn)品簡介:
白光干涉3D形貌測量儀結(jié)合相移垂直掃描的前沿技術(shù)與顯微光干涉技術(shù),不需要復(fù)雜光路調(diào)整程序,即可在非接觸、無破壞、普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測分析不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析,更可提供鏡面表面的納米級粗糙度和臺階高度分析
并追溯至IS0國際規(guī)范。白光干涉3D形貌測量儀具有的測量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個(gè)視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù),檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點(diǎn)逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機(jī)快又安全,維護(hù)成本更低。
無論是拋光面,還是粗糙面,甚至是高透明材質(zhì)(例如石英),只要有超過1%以上的反射率就能夠被檢測。適合各種材料與微元件表面特征和微尺寸檢測,應(yīng)用領(lǐng)域包含:觸控面板(Touch Panel)
太陽能板(Solar Cell)
晶圓(Silicon Wafer or Sapphire Wafer)
光碟/硬碟( DVD Disk /Hard Disk)
微機(jī)電元件(MEMSComponents)
平面液晶顯示器(LCD)
高密度線路印刷電路板(HDIPCB)
IC封裝(IC Package)
精密微機(jī)械元件或模具(Micro MechanicalPartsorMode)以及其它材料分析與元件微表面研究。