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KIF-202L（KIF-202L） 小型激光干涉儀

具體成交價以合同協(xié)議為準

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!


元中銳科集成檢測技術(shù)有限公司是工業(yè)檢測技術(shù)和系統(tǒng)集成商。是日本奧林巴斯（OLYMPUS）株式會社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統(tǒng)顯微鏡,數(shù)碼光學顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業(yè)顯微鏡的代理商。還是德國UHL產(chǎn)品在北方的總代理。致力于為工業(yè)制造和科研領(lǐng)域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識別和檢驗、無損探查、品質(zhì)管理、計量，過程控制等專業(yè)檢測設(shè)備，依托強有力的技術(shù)資源及完善專業(yè)的售后服務(wù)與維修體系，向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務(wù)及全面地解決方案 。
服務(wù)對象涵蓋科研院校，航空航天、冶金、電力、地質(zhì)，石油石化等材料研究行業(yè)，機械及微機械領(lǐng)域，以及電子領(lǐng)域、光電顯示制造、電子零件制造、半導(dǎo)體、液晶及MEMS，NANO等諸多領(lǐng)域，為用戶提供*的儀器和完善的解決方案，為用戶工作提供Z強有力的技術(shù)支持。
我們的技術(shù)：可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術(shù)、精密量測技術(shù)、全自動顯微觀察及測量、數(shù)字圖象處理和識別，自動控制等。
我們的宗旨：秉承 創(chuàng)新Innovation； 技術(shù) Technology；集成 Integration；服務(wù) Service的理念，
堅持專業(yè)周到細致的服務(wù)，不斷努力創(chuàng)新，更好地創(chuàng)造顧客價值和公司價值，成為工業(yè)檢測和質(zhì)量及過程控制方面的優(yōu)秀的公司之一。

激光共聚焦顯微鏡

小型·操作簡便
　　充分考慮作業(yè)現(xiàn)場內(nèi)的使用環(huán)境，占地空間小，方便操作。

可測量倍率（1×、2.5×）
　　測定倍率擴大到2.5×，可簡單測量小件物體。與Φ60-Φ15（可選件）的孔徑轉(zhuǎn)換器組合匹配使用的話，可zui大擴大10倍。（平面測定時）

參照鏡片λ/20 高精度
　　因為本社加工技術(shù)，參照鏡為λ/20高精度鏡片。根據(jù)客戶選擇的需要，也可提供λ/30 的產(chǎn)品。

豐富的附屬備件群
　　我社準備了豐富的附屬備件。如使用干涉條紋解析裝置（KIF-FSPC/FS2000），可進行高精度條紋解析。

主要用途：
· 鏡片研磨面的面精度的測定。
· 塑料成型件的面精度的測定。
· 各種金屬切削面的面精度的測定。 

規(guī)格：  

測定方法 斐佐型干涉方式
口徑 Φ60（使用可選件為Φ6-Φ102）mm
被檢物大小 Φ6-Φ102（平面測定時）mm
倍率 1×、2.5×（本體2 段切換）
4×、10×（使用Φ60-Φ15的孔徑轉(zhuǎn)換器時）
參照面精度 λ/20（球面以及平面）
光源 He-Ne（632.8nm）激光
電源 AC100V 50/60Hz
本體外形尺寸 220（W）×360（D）×740（H）mm
本體重量 約33kg
標準附屬品 9型TV顯示器、5軸調(diào)整受臺
* 特殊定單，我社可對應(yīng)15Omm沖程延長樣式。
各參照鏡可測量范圍（表示KIF-202L標準規(guī)格樣式時的可測定范圍） 
參照鏡                檢查可能曲率半徑                              檢查可能zui大口徑                             
FNO zui終 R R/D 凸 凹 凸 凹
0.6 16.8 0.65 1~16 1~295 24.6 200
0.7 26.2 0.75 2~26 2~298 34.6 200
1.0 45.5 1.02 2~45 3~283 44.1 200
1.5 75.2 1.51 2~75 2~251 49.7 166.2
2.0 105.0 2.0 2~105 2~220 52.5 110
3.0 163.8 3.0 2~163 2~159 54.3 53
6.0 347.6 6.0 16~347 - 57.8 -
※凹面?zhèn)鹊臏y定可能曲率半徑將會根據(jù)定盤的大小、干涉儀的設(shè)置方向（縱橫）等機械的尺寸、以及線性卡尺、解析裝置的安裝而不同。
●如必須測定曲率半徑在R2以下的場合，我社可以提供更加適合的規(guī)格，請與我社。
各標準規(guī)格參照鏡的可測定范圍
KIF-202L （標準規(guī)格）樣式時的測定可能范圍（mm） 
參照鏡     KIF-202L（標準規(guī)格樣式）
型號 zui終R R/D 測定可能曲率半徑       測定可能zui大口徑      
      干擾條紋掃描機組無                    干擾條紋掃描機組有                  干擾條紋掃描機組無                    干擾條紋掃描機組有                   
      凸 凹 凸 凹 凸  凹 凸 凹
F0.6 16.8 0.65 1~16 1~295 1~16 1~205 24.6 200 24.6 200
F0.7 26.2 0.75 2~26 2~298 2~26 2~208 34.6 200 34.6 200
F1.0 45.5 1.02 2~45 2~283 2~45 2~193 44.1 200 44.1 189.2
F1.5 75.2 1.51 2~75 2~251 2~75 2~161 49.7 166.2 49.7 106.6
F2.0 105.0 2.0 2~105 2~220 2~105 2~130 52.5 110 52.5 65
F3.0 163.8 3.0 2~163 2~159 2~163 2~69 54.3 53 54.3 23
F6.0 347.6 6.0 16~347 - 106~347 - 57.8 - 57.8 -

表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
各特別規(guī)格參照鏡的測定可能范圍（受注生產(chǎn)品）
*本社準備了2 英寸的特別規(guī)格參照鏡，可用于較大曲率半徑的測定。
*凹鏡片測定用（發(fā)散型）樣式有4 種，凸鏡片測定用（集光型）樣式有3 種?？晒┠S意選擇。
KIF-202L （標準規(guī)格）樣式時的測定可能范圍（mm） 

特別規(guī)格參照鏡     KIF-202L（標準規(guī)格樣式）
型號 zui終R     R/D     測定可能曲率半徑       測定可能zui大口徑                                       
      干擾條紋掃描機組無   干擾條紋掃描機組有   干擾條紋掃描機組無   干擾條紋掃描機組有  
      凸       凹 凸 凹 凸 凹 凸 凹
RS60-C150 -150.3 1.93 - 160~464 - 160~370 - 200 - 191.7
RS60-C300 -300.1 4.62 - 310~626 - 310~530 - 135.4 - 114.7
RS60-C390 -389.3 6.03 - 400~715 - 400~620 - 118.5 - 102.8
RS60-C490 -482.9 7.54 - 495~806 - 495~711 - 106.8 - 94.2
RS60-V520 519.1 8.85 193~509 - 290~509 - 57.5 - 57.5 -
RS60-V670 664.1 11.56 338~654 - 433~654 - 56.5 - 56.5 -
RS60-V750 750.3 13.08 426~740 - 521~740 - 56.5 - 56.5 -

表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
KIF-202LL（長距離：150mm沖程延長規(guī)格）樣式時的測定可能范圍（mm） 

特別規(guī)格參照鏡     KIF-202LL（長距離：150mm 沖程延長規(guī)格）樣式
型號 zui終R R/D 測定可能曲率半徑       測定可能zui大口徑      
      干擾條紋掃描機組無   干擾條紋掃描機組有   干擾條紋掃描機組無   干擾條紋掃描機組有  
      凸       凹 凸 凹 凸 凹 凸 凹
RS60-C150 -150.3 1.93 - 160~614 - 160~520 - 200 - 200
RS60-C300 -300.1 4.62 - 310~776 - 310~680 - 167.9 - 147.1
RS60-C390 -389.3 6.03 - 400~865 - 400~770 - 143.4 - 127.6
RS60-C490 -482.9 7.54 - 495~956 - 495~861 - 126.7 - 114.1
RS60-V520 519.1 8.85 43~509 - 140~509 - 57.5 - 57.5 -
RS60-V670 664.1 11.56 188~654 - 283~654 - 56.5 - 56.5 -
RS60-V750 750.3 13.08 276~740 - 371~740 - 56.5 - 56.5 -

表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
注明：測定可能zui大曲率半徑以及測定可能zui大口徑，將會根據(jù)干涉儀的受臺夾具等機械尺寸、被檢鏡片的大小以及減振板、線性卡尺等的安裝而改變。但是歸根結(jié)底因為目視，故不能保證。



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