主要特性和功能

• 豐富的測(cè)試儀選件，您可以選擇醉適合自身測(cè)試需求的配置：100 kHz 至 1.5 GHz/3 GHz，2 端口，50 或 75 Ω，傳輸/反射或 S 參數(shù)測(cè)試儀

• 使用低頻-射頻選件（選件 3L5/3L4/3L3）滿足各類應(yīng)用需求：5 Hz 至 3 GHz，2 端口，50 Ω，S 參數(shù)測(cè)試儀，增益相位測(cè)試端口，內(nèi)置的直流偏置源

• 在單一儀器中整合了網(wǎng)絡(luò)分析和阻抗分析兩大功能，可以定制您的應(yīng)用（選件 3L5/3L4/3L3 和 005）

描述：
E5061B可滿足低頻至射頻的不同測(cè)量需求Agilent E5061B是一款ENA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀，可以滿足廣泛的低頻至高頻電子元器件和電路測(cè)量需求。E5061B現(xiàn)可提供新的5 Hz至3 GHz頻域器件分析標(biāo)準(zhǔn)。

所有規(guī)格適用于23°C±5°C范圍內(nèi)（除非另有說明）和儀器開啟后90分鐘。

E5061B ENA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量與以下條件:

未將平均值應(yīng)用于數(shù)據(jù)
環(huán)境溫度23°C±5°C，與校準(zhǔn)溫度偏差小于1°C
未忽略響應(yīng)和隔離校準(zhǔn)