三維表面輪廓儀

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公司名稱 巨力光電（北京）科技有限公司
品牌 其他品牌
型號(hào)
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時(shí)間 2024/8/7 14:34:17
訪問(wèn)次數(shù) 293

產(chǎn)品標(biāo)簽

3D光學(xué)表面輪廓儀三維光學(xué)共聚焦顯微鏡激光共聚焦顯微鏡白光共聚焦顯微鏡三維表面輪廓儀

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

巨力光電（北京）有限公司立足于北京市副中心通州區(qū)，專門引進(jìn)歐洲、美國(guó)、日本等國(guó)家制造的先進(jìn)科學(xué)儀器設(shè)備，為客戶提供完備的售前咨詢和售后服務(wù)、技術(shù)支持。公司骨干在該行業(yè)有超過(guò)10年的經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)的服務(wù)水平、完整的售后服務(wù)體系。

目前主要產(chǎn)品涉及材料科學(xué)、微納米技術(shù)、表面測(cè)量和光電器件、光伏產(chǎn)品、半導(dǎo)體器件的檢測(cè)與研發(fā)等領(lǐng)域。

公司本著以科技為導(dǎo)向、以客戶為中心、以服務(wù)為宗旨，竭誠(chéng)為新老客戶提供貼心的服務(wù)！

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AAA 太陽(yáng)光模擬器,IV測(cè)試,雙燈太陽(yáng)光模擬器,太陽(yáng)能電池載流子遷移率測(cè)試系統(tǒng),太陽(yáng)能電池瞬態(tài)光電壓光電流測(cè)試，鈣鈦礦太陽(yáng)能電池&疊層太陽(yáng)能電池仿真軟件，多通道太陽(yáng)能電池穩(wěn)定性測(cè)試系統(tǒng)，OLED光譜測(cè)量系統(tǒng)/角譜儀分析儀，OLED仿真軟件，高分子壓電系數(shù)測(cè)試儀，薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)，薄膜應(yīng)力測(cè)試儀，薄膜熱應(yīng)力測(cè)試儀，桌面原子層沉積系統(tǒng)，鈣鈦礦LED壽命測(cè)試儀，太陽(yáng)能電池量子效率QE測(cè)量系統(tǒng)，石墨烯/碳納米管制備技術(shù)，桌面型納米壓印機(jī)，太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試儀，SPD噴霧熱解成膜系統(tǒng)，電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測(cè)試系統(tǒng)，電容充放電測(cè)試儀，薄膜生長(zhǎng)速率測(cè)試儀

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合

多功能 3D光學(xué)/三維表面輪廓儀（ OPTELICS HYBRID+，三維光學(xué)共聚焦顯微鏡/激光共聚焦顯微鏡/白光共聚焦顯微鏡/三維表面輪廓儀 ），高度方向測(cè)量精度達(dá)0.05nm；系統(tǒng)整合了白光共聚焦+激光共聚焦技術(shù)；以雙共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，集6項(xiàng)測(cè)試功能于一體，包括白光共聚焦、激光共聚焦、微分干涉顯微鏡、垂直白光干涉顯微鏡、相差干涉顯微鏡、反射分光膜厚測(cè)量等功能；通常多臺(tái)設(shè)備才能完成的測(cè)量，僅需一臺(tái)設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)，解決了需要使用多種工具的麻煩，滿足在各種測(cè)量場(chǎng)景中的測(cè)試需求。

提供6個(gè)測(cè)試功能模塊，應(yīng)對(duì)多樣測(cè)量需求
滿足行業(yè)測(cè)試規(guī)格要求，High精度
提供多種測(cè)量和分析
自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)，高效測(cè)量

適用于滿足多樣場(chǎng)景測(cè)試需求

3D 光學(xué)表面輪廓儀（ 三維光學(xué)共聚焦顯微鏡/激光共聚焦顯微鏡/白光共聚焦顯微鏡） 一個(gè)平臺(tái)提供6種測(cè)試功能:

三維表面輪廓儀

1. 白光共聚焦

寬視野+High精度測(cè)量

高清彩色觀察

三維表面輪廓儀

2. 激光共聚焦

高倍·High 分辨率觀察

搭載波長(zhǎng)405nm的紫色半導(dǎo)體激光，無(wú)需前處理，以可媲美電子顯微鏡的High分辨率，鮮明捕捉納米級(jí)細(xì)微構(gòu)造。

三維表面輪廓儀

3. 微分干涉測(cè)量

納米級(jí)凹凸觀察

共聚焦與微分干涉（DIC）相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)細(xì)微凹凸形狀的可視化。由于焦點(diǎn)深度極低，對(duì)于透明樣品可以排除其背面的影響僅對(duì)表面進(jìn)行觀察。

三維表面輪廓儀

4. 垂直白光干涉測(cè)量

數(shù)毫米寬廣視野內(nèi)的納米級(jí)形狀測(cè)量

白光通過(guò)雙光束干涉鏡產(chǎn)生的干涉波形，通過(guò)垂直方向掃描找到干涉光強(qiáng)度高點(diǎn)，得到樣品的高度分布數(shù)據(jù)。原理上，高度分辨率不受物鏡放大倍數(shù)影響，因此可使用低倍鏡快速完成寬視野范圍測(cè)量。

三維表面輪廓儀

5. 反射分光膜厚測(cè)量

納米級(jí)透明膜厚測(cè)量

利用波長(zhǎng)切換功能對(duì)6個(gè)波長(zhǎng)的絕對(duì)反射率進(jìn)行測(cè)量，光學(xué)建模計(jì)算得到膜厚。數(shù)nm～1μm的單層/多層膜厚可測(cè)量。測(cè)量區(qū)域在共聚焦觀察圖像上定義，亞微米區(qū)域～全視野的數(shù)mm區(qū)域的平均膜厚均可測(cè)量。而且因各個(gè)像素(pixel)的膜厚能夠計(jì)測(cè)，所以可以測(cè)量膜厚分布。

三維表面輪廓儀