FEI Quanta 200 掃描電子顯微鏡
- 公司名稱 艾博納微納米科技(江蘇)有限責(zé)任公司
- 品牌 ABNER/艾博納
- 型號 FEI Quanta 200
- 產(chǎn)地 江蘇省淮安市清江浦區(qū)清浦工業(yè)園枚皋路7號
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/19 16:05:35
- 訪問次數(shù) 194
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),電氣,綜合 |
產(chǎn)品名稱
掃描電子顯微鏡(SEM)
設(shè)備型號:
FEI Quanta 200 Environmental Scanning Electron Microscope
測試功能:
1.表面形貌:提供高分辨率的表面形貌圖像,觀察樣品表面的形貌、紋理和形狀。
2.粒度分析:分析樣品中的粒度,包括顆粒的大小、形狀和分布。
3.拓?fù)浣Y(jié)構(gòu):顯示樣品拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),如裂紋、凹凸、孔隙。
4.腐蝕和磨損分析:觀察樣品表面的腐蝕、磨損,分析樣品耐磨性。
5.相分布:在多相材料中,SEM可以用于觀察不同相之間的分布和界面。
6.涂層和薄膜分析:分析涂層、薄膜的厚度、均勻性和附著性。
7.半導(dǎo)體器件分析:研究和檢查集成電路、晶體管和其他半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)
艾博納掃描電子顯微鏡(SEM)測試的樣品要求:
1.樣品尺寸:一般試樣取樣直徑最好在25mm以內(nèi),最大高度10mm以內(nèi)。
2.ESEM、冷凍及加熱試件因可視范圍之限制,取樣直徑限制在2mm以內(nèi),最大高度2mm以內(nèi),底部要平整,試件請自行提前處理。
3.固體樣品保證干燥,并且表面平整和干凈。
4.樣品應(yīng)在高真空環(huán)境下穩(wěn)定,不應(yīng)有顯著的氣體釋放或化學(xué)變化。
5.避免樣品表面有塵埃、油污或其他污染物。