BHAST（偏壓）加速老化試驗(yàn)箱

評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)，可進(jìn)行BHAST試驗(yàn)。

BHAST（偏壓）加速老化試驗(yàn)箱 特點(diǎn)

·高機(jī)能：采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè)， 測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少

·軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了，直觀易操作

·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗(yàn)過(guò)程。

·便利性高：構(gòu)造裝著脫落式、 易進(jìn)行保養(yǎng)交換?？赏瑫r(shí)試驗(yàn)停 止等聯(lián)動(dòng)裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈活。

·測(cè)試自檢功能：點(diǎn)檢、校正方便。

·設(shè)計(jì)精巧，不受場(chǎng)所限制，易移動(dòng)。

·可靠性高：配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐，確保試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行。

用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

應(yīng)用領(lǐng)域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車(chē)規(guī)級(jí)芯片

技術(shù)規(guī)格

類(lèi)型 500V *1 1000V

通道數(shù) 32通道/64通（可選）

工作時(shí)間 1~9999小時(shí)

偏置電壓 -100~+500VDC -100~+1000VDC

記性反轉(zhuǎn) 具備

共負(fù)極測(cè)試（可選） 具備

CAF測(cè)試（可選） 具備

測(cè)試電壓 1.0-99.9VDC (0.01V 步進(jìn)) 100-500VDC (0.1V 步進(jìn)) 1.0-99.9VDC (0.01V 步進(jìn)) 100-1000VDC (0.1V 步進(jìn))