ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀

ContourX-100光學(xué)輪廓儀以最佳的價格為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計量樹立了新。

該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計，結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉儀（WLI）創(chuàng)新，可提供毫不遜色的2D/ 3D高分辨率測量功能。滿足計量要求的臺式系統(tǒng)具有業(yè)界的友好用戶界面，可直觀訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。

新一代增強(qiáng)功能包括新的五百萬像素攝像頭，新的載物臺和新的測量模式，提供了更大的靈活性。ContoutX-100光學(xué)輪廓儀是一臺極有價值的計量設(shè)備。

快速、可重復(fù)的三維計量

• 與放大倍率無關(guān)的業(yè)界最好Z軸分辨率

• 最大尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場

• 最高穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計

測量和分析功能

• 易于使用的界面，可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

• 廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng)，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析

• 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報告

先進(jìn)的計量功能

ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計量、表征和成像領(lǐng)域超過四十年的專有光學(xué)創(chuàng)新和作為者的結(jié)晶。該系統(tǒng)結(jié)合三維白光干涉和二維成像技術(shù)在單次測量中實(shí)現(xiàn)多種分析。ContourX-100對于反射率從0.05％到100％的各種表面都非常易于測量。

分析與回報

通過上千項(xiàng)自定義分析功能和簡易但功能強(qiáng)大的 VisionXpress™和Vision64®用戶界面，ContourX-100為提高 實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。這種的硬件和軟件組合提供了對高重復(fù)性和高通量計量學(xué)測量的便捷訪問，超過了同類計量技術(shù)。