化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>工藝測量和檢測設(shè)備>光學(xué)薄膜測量設(shè)備>HM-S100 非接觸光學(xué)半自動薄膜厚膜檢測設(shè)備
HM-S100 非接觸光學(xué)半自動薄膜厚膜檢測設(shè)備
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 深圳市和興盛光電有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 HM-S100
- 產(chǎn)地 廣東深圳市龍華區(qū)大浪街道龍軍花園工業(yè)區(qū)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/5/16 16:05:18
- 訪問次數(shù) 52
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 外觀尺寸 | 600*500*350mm | 測量行程 | 100mm |
|---|---|---|---|
| 掃描最少步距 | 2um | 有效測量范圍 | 80mm |
深圳市和興盛光電有限公司成立于2011年，致力于高精度檢測設(shè)備的技術(shù)研發(fā)和銷售。和興盛是一家以技術(shù)研發(fā)為導(dǎo)向，以應(yīng)用光譜共焦技術(shù)、激光測量技術(shù)、視覺檢測技術(shù)為核心，集精密機(jī)械、運動控制、處理軟件為一體的檢測設(shè)備集成商。
HM-S100半自動檢測設(shè)備采用非接觸光學(xué)測量系統(tǒng)，應(yīng)用于LTCC/MLCC濕膜，厚膜電阻行業(yè)膜厚，太陽能行業(yè)膜厚，
蝕刻凹坑溝槽檢測。應(yīng)對各種材質(zhì)，重復(fù)檢測精度≦0.5μm，測量過程中快速取樣周期20us，擁有更強(qiáng)大的CPK統(tǒng)計功能，更直觀看到Xbar-R均值極差控制圖、分布概率直方圖平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、CPK等常用統(tǒng)計參數(shù)。配置吸附系統(tǒng)及高精度位移系統(tǒng)，測量樣品準(zhǔn)確度更測量輪廓、斷差、槽深、高度等。
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