DR-H203L 高低溫沖擊試驗(yàn)箱制造商
參考價(jià) | ¥70080-¥99999/臺(tái) |
- 公司名稱 廣東德瑞檢測(cè)設(shè)備有限公司
- 品牌Derui/德瑞檢測(cè)
- 型號(hào)DR-H203L
- 所在地東莞市
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間2024/11/23 10:42:51
- 訪問(wèn)次數(shù) 409
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,建材,航天,汽車,電氣 | 設(shè)備類型 | 高低溫沖擊試驗(yàn)箱 |
產(chǎn)地 | 東莞 | 溫度均勻度 | ≤2℃ |
溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | 溫度控制方式 | 智能溫控 |
高低溫沖擊試驗(yàn)箱制造商產(chǎn)品滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;GB/T1058 9-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T2423.3-2006試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法;GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T2423.4-2008試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法;GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法;GJ B150.3高溫試驗(yàn);
IEC60068-2-1:2007低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法;GJ B150.4低溫試驗(yàn);
IEC60068-2-2:2007高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法;GJ B150.9濕熱試驗(yàn);
高低溫沖擊試驗(yàn)箱用途:
1、電子電器零組件:測(cè)試電子元件在溫度急劇變化下的性能,以評(píng)估其可靠性和耐用性。
2、自動(dòng)化零部件:確保自動(dòng)化系統(tǒng)中使用的部件能夠在溫度下正常工作。
3、通訊組件:對(duì)通訊設(shè)備進(jìn)行溫度沖擊測(cè)試,以保證其在不同溫度環(huán)境下的通信質(zhì)量。
4、汽車配件:測(cè)試汽車零部件在極寒或極熱環(huán)境下的性能,以確保車輛在氣候下的安全和性能。
5、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè):評(píng)估這些材料在溫度沖擊下的物理和化學(xué)性質(zhì)變化。
6、國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè):對(duì)軍事和航天設(shè)備進(jìn)行嚴(yán)格的溫度沖擊測(cè)試,以確保其在戰(zhàn)場(chǎng)或太空環(huán)境中的穩(wěn)定性。
7、半導(dǎo)體和高分子材料:測(cè)試這些材料在溫度沖擊下的物理變化,以評(píng)估其適應(yīng)性和可靠性。
8、科技研發(fā):在產(chǎn)品研發(fā)階段,幫助工程師發(fā)現(xiàn)潛在的設(shè)計(jì)缺陷和性能瓶頸,確保產(chǎn)品在條件下的穩(wěn)定性。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱通過(guò)模擬高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下,測(cè)試產(chǎn)品因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,從而確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。這種試驗(yàn)對(duì)于從精密的IC到重機(jī)械的組件都是的。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱制造商培訓(xùn)及售后服務(wù):
1、售前服務(wù):廣東德瑞所有設(shè)備銷售前為客戶免費(fèi)提供產(chǎn)品技術(shù)方案,并可根據(jù)客戶要求提供現(xiàn)場(chǎng)講解和技術(shù)咨詢服務(wù)。
2、售后服務(wù):廣東德瑞所有設(shè)備銷售后派出人員為客戶免費(fèi)提供產(chǎn)品使用培訓(xùn),現(xiàn)場(chǎng)指導(dǎo)產(chǎn)品的使用和維護(hù)。
3、質(zhì)量保證:廣東德瑞所有設(shè)備保質(zhì)期為驗(yàn)收之日起1年,在保質(zhì)期內(nèi)產(chǎn)品發(fā)生非人為質(zhì)量問(wèn)題,我廠為客戶提供免費(fèi)維修,客戶還可以續(xù)費(fèi)延長(zhǎng)保修期。
電子元件的高低溫沖擊測(cè)試方法:
電子元件的高低溫沖擊測(cè)試是一種用于評(píng)估材料在溫度變化下性能的實(shí)驗(yàn)方法,對(duì)于確保電子元件的可靠性和穩(wěn)定性至關(guān)重要。以下是根據(jù)互聯(lián)網(wǎng)搜索得到的結(jié)果,對(duì)電子元件的高低溫沖擊測(cè)試方法的概述:
測(cè)試目的:高低溫沖擊測(cè)試主要用于驗(yàn)證電子元件在劇烈的溫度變化下的結(jié)構(gòu)耐熱脹冷縮性能,提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行質(zhì)量控制。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):進(jìn)行高低溫沖擊測(cè)試時(shí),通常會(huì)參照一些國(guó)際或國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),如GJb、GB/T、IEC、EN以及MIL-STD等。
測(cè)試范圍:溫度范圍一般設(shè)定在-45℃至+85℃或更的溫度,如-70°C至+200°C。
轉(zhuǎn)換時(shí)間:溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間應(yīng)盡可能短,手動(dòng)轉(zhuǎn)換通常設(shè)定為2~3分鐘,自動(dòng)轉(zhuǎn)換少于30秒,對(duì)于小試件則少于10秒。
循環(huán)次數(shù):測(cè)試過(guò)程中的循環(huán)次數(shù)根據(jù)具體的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求而定,有的要求3次、5次或10次循環(huán)。
測(cè)試方法:高低溫沖擊測(cè)試主要有兩種方法,氣體法和液體法。氣體法通過(guò)在高溫箱和低溫箱之間轉(zhuǎn)換產(chǎn)品或使用沖擊試驗(yàn)箱實(shí)現(xiàn)溫度轉(zhuǎn)換;液體法則通過(guò)將產(chǎn)品浸入不同溫度的液體中實(shí)現(xiàn)。
測(cè)試設(shè)備:二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種常用的測(cè)試設(shè)備,其技術(shù)參數(shù)包括溫度測(cè)試范圍、提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間、測(cè)試區(qū)空間等。
測(cè)試過(guò)程:在測(cè)試過(guò)程中,產(chǎn)品通常不通電,試驗(yàn)結(jié)束后檢查外觀和通電測(cè)試產(chǎn)品功能。
重要參數(shù):循環(huán)數(shù)、低環(huán)境溫度、最高環(huán)境溫度、轉(zhuǎn)換時(shí)間、抽樣數(shù)量等是進(jìn)行高低溫沖擊測(cè)試時(shí)需要關(guān)注的重要參數(shù)。
試驗(yàn)結(jié)果:試驗(yàn)后應(yīng)檢查產(chǎn)品的外觀、電氣性能等,確保無(wú)異常,如結(jié)緣物包扎處應(yīng)緊密均勻不松散,電線束中線路導(dǎo)通率為100%,無(wú)短路、錯(cuò)路現(xiàn)象。
通過(guò)上述方法,可以有效地對(duì)電子元件進(jìn)行高低溫沖擊測(cè)試,以評(píng)估其在溫度變化下的耐受能力和性能穩(wěn)定性。
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