1MHz陶瓷介電常數(shù)測(cè)試儀電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電極）平板電容器極片尺寸：Φ5mm、Φ38mm和Φ50mm三種可選.平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm插頭間距：與電橋四端配合

1MHz陶瓷介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)材料測(cè)試裝置提供四種不同直徑測(cè)試電極，

能對(duì)直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。它針對(duì)不同試樣

可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。 微分頭分辨率：10μm最高耐壓：±42Vp（AC+DC）電纜長(zhǎng)度設(shè)置：1m 最高使用頻率：30MHz 

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法準(zhǔn)確度ALC ON 10% x設(shè)定電流 + 20μAALC OFF 6% x設(shè)定電壓 + 20μADC偏置電壓源電壓 / 電流范圍：0V—±5V / 0mA—±50mA分辨率：0.5mV / 5μA電壓準(zhǔn)確度：1% x設(shè)定電壓 + 5mVISO ON：用于電感、變壓器加偏置測(cè)試AC源內(nèi)阻ISO ON：100ΩISO OFF：30Ω、50Ω、
電源電壓：220V±20%，50Hz±2Hz功耗80VA體積(W×H×D)： 280 mm × 88 mm × 370 mm(無(wú)護(hù)套)，369 mm × 108 mm × 408 mm(帶護(hù)套)。重量：約5kg將在以后的測(cè)試過(guò)程中進(jìn)行開(kāi)路校正計(jì)算。如果頻率1，頻率2。設(shè)置為OFF, 開(kāi)路校正計(jì)算采用插入法所計(jì)算出的當(dāng)前頻率的開(kāi)路校正數(shù)據(jù)。如果頻率1，頻率2 設(shè)置為ON, 同時(shí)當(dāng)前測(cè)試頻率等于頻率1，頻率2， 則頻率1，頻率2 的開(kāi)路校正數(shù)據(jù)將被用于開(kāi)路校正的計(jì)算。
平衡測(cè)試功能變壓器參數(shù)測(cè)試功能測(cè)試速度:13ms/次電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整（ALC）功能V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能內(nèi)部自帶直流偏置源可外接大電流直流偏置源10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻內(nèi)建比較器，10檔分選和計(jì)數(shù)功能內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤(pán)文件保存測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤(pán)RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
選件，DCI與GPIB 只能2者選1通用技術(shù)參數(shù)工作溫度, 濕度：0℃－40℃, ≤ 90%RH
列表掃描10點(diǎn)列表掃描可對(duì)頻率、AC電壓/電流、內(nèi)/外DC偏置電壓/電流進(jìn)行掃描測(cè)試每掃描點(diǎn)可單獨(dú)分選內(nèi)部非易失性存儲(chǔ)器：100組LCRZ儀器設(shè)定文件，201次測(cè)試結(jié)果外部USB存儲(chǔ)器GIF圖像LCRZ儀器設(shè)定文件測(cè)試數(shù)據(jù)USB存儲(chǔ)器直接存儲(chǔ)
接口I/O接口：HANDLER，從儀器后面板輸出串行通訊接口：USB、RS232C并行通訊接口：GPIB接口（選件）網(wǎng)絡(luò)接口：LAN存儲(chǔ)器接口：USB HOST（前面板）偏置電流源控制接口DCI
技術(shù)參數(shù)顯示器:480×RGB×272，4.3寸TFT LCD顯示器。測(cè)試信號(hào)頻率：20Hz—1MHz分辨率：10mHz，4位頻率輸入準(zhǔn)確度：0.01%AC電平測(cè)試信號(hào)電壓范圍：10mV—2Vrms電壓分辨率:100μV，3位輸入準(zhǔn)確度ALC ON 10% x設(shè)定電壓 + 2mVALC OFF 6% x設(shè)定電壓 + 2mV測(cè)試信號(hào)電流范圍：100μA—20mA電流分辨率：1μA，3位輸入
性能特點(diǎn)4.3寸TFT液晶顯示中英文可選操作界面高1MHz的測(cè)試頻率，10mHz分辨率
GDAT-S 的短路校正功能能消除與被測(cè)元件相串聯(lián)的寄生阻抗（R, X）造成的誤差。
移動(dòng)光標(biāo)至短路設(shè)定域，屏幕軟鍵區(qū)顯示下列軟鍵。
短路校正功能操作步驟短路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻短路校正和對(duì)所設(shè)定的2 個(gè)頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻短路校正。執(zhí)行下列操作步驟利用插入計(jì)算法對(duì)全頻率進(jìn)行短路校正。
按軟鍵 關(guān) ，關(guān)閉開(kāi)路校正功能。以后的測(cè)量過(guò)程中將不再進(jìn)行開(kāi)路校正的計(jì)算。短路校正
使用DCI接口可控制外部直流偏流源，偏置電流可達(dá)120A。

 概述介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾持被測(cè)樣品，園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線(xiàn)性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。