iEDX-150T(S) 薄金鍍層測(cè)厚儀
- 公司名稱 深圳市善時(shí)儀器有限公司
- 品牌 SENSEXRF/善時(shí)
- 型號(hào) iEDX-150T(S)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/4 16:46:40
- 訪問(wèn)次數(shù) 924
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 | 測(cè)試下限 | 0.0125um |
探測(cè)器 | 大計(jì)數(shù)率SDD | 平臺(tái)操作 | 三維自動(dòng)平臺(tái) |
一、iEDX-150T(S)薄金鍍層測(cè)厚儀主要參數(shù):
1、多鍍層分析,可分析鍍層1~5層(不含基材);
2、測(cè)試示值:0.001 μm,最薄可測(cè)厚度為0.0125μm;
3、元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);
4、測(cè)量時(shí)間:10~30秒可選;
5、SDD探測(cè)器,能量分辨率為125eV;
6、探測(cè)器Be窗0.5mil(12.7μm);
7、微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);
8、標(biāo)配6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片,且自動(dòng)切換;
9、XYZ三維全自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),荷載最*大為5公斤;
10、高清CCD攝像頭(200萬(wàn)像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;
11、多變量非線性去卷積曲線擬合;
12、高性能FP/MLSQ分析;
13、儀器尺寸:618×525×490mm;
14、樣品臺(tái)尺寸:230×220mm;
15、樣品臺(tái)移動(dòng)范圍:前后左右各80mm、高度90mm;
16、樣品倉(cāng)尺寸:395×400×102mm。
二、圖譜界面:
1、軟件支持無(wú)標(biāo)樣分析;
2、寬大分析平臺(tái)和樣品腔;
3、集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;
4、采用多種光譜擬合分析處理技術(shù);
5、鍍層測(cè)厚分析精度可達(dá)到0.001μm。
三、分析報(bào)告結(jié)果:
1、直接打印分析報(bào)告;
2、報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF,EXCEL格式。
四、iEDX-150T(S)薄金鍍層測(cè)厚儀樣品分析圖譜: