奧林巴斯正置式材料顯微鏡BX53
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/11/12 17:03:33
- 訪問次數(shù) 268
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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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為工業(yè)和材料學(xué)應(yīng)用而設(shè)計(jì)
奧林巴斯正置式材料顯微鏡BX53采用了模塊化設(shè)計(jì),為廣泛的材料學(xué)和工業(yè)應(yīng)用提供了多樣化的解決方案。BX3M增強(qiáng)了與奧林巴斯Stream軟件的集成性,從而為常規(guī)顯微鏡檢查和數(shù)碼成像用戶提供了從觀察到報(bào)告創(chuàng)建的無縫工作流程。
高級(jí)的顯微觀察 便捷的顯微操作
用戶友好性
·讓傳統(tǒng)技術(shù)易于操作:簡(jiǎn)單的照明器
·直觀的顯微鏡控制:視場(chǎng)光闌和孔徑光闌的簡(jiǎn)單設(shè)置
·快速找到焦點(diǎn):對(duì)焦刻度標(biāo)尺
·一致的照明:智能光強(qiáng)管理
·方便而人性化的操作
·可恢復(fù)顯微鏡設(shè)置:編碼硬件
·基本測(cè)量功能
奧林巴斯正置式材料顯微鏡BX53功能性
·讓未見變?yōu)榭梢姡篗IX觀察
·創(chuàng)建超景深圖像:EFI
·輕松移動(dòng)載物臺(tái)即可進(jìn)行全景拍攝:即時(shí)MIA
·同時(shí)捕捉高光和暗調(diào)區(qū)域的細(xì)節(jié):HDR
·可調(diào)整滿足觀察和分析的偏好要求
·容納各類樣品
精密的光學(xué)元件
·優(yōu)良的光學(xué)性能:波像差控制
·穩(wěn)定的色溫和高強(qiáng)度白光LED照明
·支持精密測(cè)量:自動(dòng)校準(zhǔn)
·無縫拼接:圖像陰影校正
全面可定制性
·可滿足用戶要求的各種配置
·模塊化設(shè)計(jì),構(gòu)建自己的系統(tǒng)
直觀的顯微鏡控制
顯微檢查任務(wù)常常需要用很長(zhǎng)的時(shí)間來調(diào)節(jié)顯微鏡設(shè)置、獲取圖像,以及進(jìn)行必要的測(cè)量,從而得到令人滿意的報(bào)告。用戶有時(shí)需要投入時(shí)間和金錢去完成專業(yè)的顯微鏡培訓(xùn),或只了解了顯微鏡全部功能的很小部分就開展工作。
奧林巴斯工業(yè)顯微鏡BX53M通過其優(yōu)良的設(shè)計(jì)和便捷的控制功能,簡(jiǎn)化了復(fù)雜的顯微檢查任務(wù)。用戶不需要長(zhǎng)時(shí)間的培訓(xùn)即可掌握顯微鏡的大多數(shù)功能。BX53M方便而舒適的操作還改善了圖像的再現(xiàn)性,大程度減少了人為錯(cuò)誤。
讓傳統(tǒng)技術(shù)易于操作:簡(jiǎn)單的照明器
照明器的設(shè)計(jì)大程度減少了顯微鏡操作過程中所必須的復(fù)雜操作。照明器前端的旋鈕使用戶能夠輕松地改變觀察方法。操作者可以在反射光顯微鏡檢查時(shí)快速切換常用的觀察方法,比如從明場(chǎng)觀察到暗場(chǎng)觀察,到偏光觀察,以隨時(shí)改變不同類型的分析。此外,可以旋轉(zhuǎn)檢偏鏡來實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單偏光觀察的調(diào)節(jié)。
操作者能夠在經(jīng)常使用的觀察方法之間快速切換(AlSi的拋光態(tài)樣品)
直觀的顯微鏡控制:視場(chǎng)光闌和孔徑光闌的簡(jiǎn)單設(shè)置
使用正確的孔徑光闌和視場(chǎng)光闌設(shè)置能夠獲得良好的圖像對(duì)比度,還可以充分利用物鏡的數(shù)值孔徑。指示標(biāo)志可引導(dǎo)用戶根據(jù)觀察方法和所用物鏡進(jìn)行正確的設(shè)置。
快速找到焦點(diǎn):對(duì)焦刻度標(biāo)尺
機(jī)架上的對(duì)焦刻度標(biāo)尺可以讓操作者快速鎖定焦點(diǎn)。操作者不用通過目鏡查看樣品就可以大致地對(duì)準(zhǔn)焦點(diǎn),從而在檢查具有不同高度的樣品時(shí)節(jié)省了時(shí)間。
一致的照明:智能光強(qiáng)管理
在初始設(shè)定時(shí),可以調(diào)節(jié)照明強(qiáng)度,使其與編碼照明器和/或編碼物鏡轉(zhuǎn)換器的特定硬件配置匹配。
傳統(tǒng)的光強(qiáng)
傳統(tǒng)顯微鏡中,提高了放大倍率,以及使用需要更多光線的觀察方法后,圖像會(huì)變得更暗。
智能光強(qiáng)管理
改變放大倍率或觀察方法時(shí),顯微鏡自動(dòng)調(diào)節(jié)光強(qiáng)到正確值。
方便而人性化的操作
人性化設(shè)計(jì)對(duì)所有用戶都至關(guān)重要。無論是單機(jī)顯微鏡用戶,還是集成了奧林巴斯Stream圖像分析軟件的顯微鏡系統(tǒng)用戶,都能得益于可以清晰顯示顯微鏡編碼型硬件位置的人性化操作設(shè)計(jì)的手動(dòng)控制器。簡(jiǎn)單的手動(dòng)開關(guān)讓用戶能夠?qū)W⒂跇悠泛蜋z查工作本身。
可恢復(fù)顯微鏡設(shè)置:編碼硬件
BX53M采用了新的編碼功能,將顯微鏡的硬件設(shè)置與奧林巴斯Stream圖像分析軟件整合在一起。觀察方法、照明強(qiáng)度和物鏡位置全都記錄在軟件和/或手動(dòng)控制器里。編碼功能可實(shí)現(xiàn)顯微鏡設(shè)置與每幅圖像一起自動(dòng)保存,從而可輕松完成此后的還原設(shè)置,以及為報(bào)表提供文檔記錄。既節(jié)省了操作者的時(shí)間,又大程度地減小了使用不正確設(shè)置的概率。當(dāng)前的觀察設(shè)置總是清晰地顯示在手動(dòng)控制器和軟件上。
針對(duì)各種檢查和分析任務(wù)的功能
BX53M保留了常規(guī)顯微鏡檢查的傳統(tǒng)襯度對(duì)比法,比如明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光和微分干涉。隨著新材料的發(fā)展,現(xiàn)在可以使用的顯微鏡檢查技術(shù)來進(jìn)行更精確和更可靠的檢查,從而解決了以往很多使用傳統(tǒng)襯度對(duì)比法檢查時(shí)遇到的缺陷檢測(cè)方面的困難。新的照明技術(shù)和奧林巴斯Stream圖像分析軟件內(nèi)的圖像獲取選項(xiàng)為用戶提供了評(píng)估樣品、文檔記錄的更多選擇。
此外,BX53M還可用于比傳統(tǒng)型號(hào)更大、更重、更特殊的樣品。
MIX觀察:讓未見變?yōu)榭梢?/strong>
BX53M的MIX觀察技術(shù)組合了明場(chǎng)和暗場(chǎng)照明方法。MIX照明滑塊中的LED光源,以定向暗場(chǎng)光線照射樣品。這種方式類似于傳統(tǒng)暗場(chǎng)照明,但又可為L(zhǎng)ED的不同角度光線照射提供四分象限選擇功能。這種定向暗場(chǎng)與明場(chǎng)、熒光、或偏光的組合稱為MIX照明,有助于突出顯示缺陷和區(qū)分隆起與凹陷表面。
傳統(tǒng)的
明場(chǎng)將光線直接照射在樣品上,暗場(chǎng)則使光線沿物鏡的周圍從側(cè)面照射樣品,突出顯示了劃痕和缺陷。
MIX
MIX觀察是通過一個(gè)環(huán)形LED光源來形成明場(chǎng)、熒光或偏光與定向暗場(chǎng)的組合。可以調(diào)節(jié)LED光源,選擇從哪個(gè)方向進(jìn)行照明。該方法可在傳統(tǒng)方法無法觀察的表面上獲得對(duì)比度并可突出表面特征。
即時(shí)MIA:輕松移動(dòng)載物臺(tái)即可進(jìn)行全景拍攝
現(xiàn)在不需要電動(dòng)載物臺(tái),僅僅移動(dòng)手動(dòng)載物臺(tái)上XY旋鈕即可方便而快捷地拼接圖像。奧林巴斯Stream軟件采用圖案識(shí)別技術(shù)來生成全景圖像,為用戶提供了比單一畫面更廣闊的視野。
一枚硬幣的即時(shí)MIA圖像。
EFI:創(chuàng)建超景深圖像
奧林巴斯Stream軟件的景深擴(kuò)展成像(EFI)功能能夠獲取高度超過物鏡焦深的樣品圖像,把通過不同焦面的圖像疊加在一起,創(chuàng)建出一幅超景深圖像??梢允褂檬謩?dòng)或電動(dòng)Z軸機(jī)構(gòu)來執(zhí)行EFI,并可創(chuàng)建一幅高度圖,以輕松地識(shí)別樣品結(jié)構(gòu)。也可以用Stream桌面版在離線時(shí)創(chuàng)建EFI圖像。
HDR:同時(shí)捕捉高光和暗調(diào)區(qū)域的細(xì)節(jié)
高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)使用了的圖像處理技術(shù),能夠針對(duì)一幅圖像內(nèi)的亮度差異進(jìn)行調(diào)節(jié),從而減少了眩光。HDR改善了數(shù)字圖像的視覺效果,從而為用戶制作報(bào)告時(shí)提供專業(yè)的圖像。
借助HDR功能,同時(shí)清晰呈現(xiàn)出高光和暗調(diào)區(qū)域的細(xì)節(jié)
(樣品:燃油噴射器)
借助HDR功能,增強(qiáng)了對(duì)比度
(樣品:鎂切片)
3D測(cè)量
使用外部電動(dòng)對(duì)焦機(jī)構(gòu)時(shí),可以快速獲取EFI圖像,并以3D視圖顯示。獲取的高度數(shù)據(jù)可用于剖面上的3D測(cè)量,或通過單視圖進(jìn)行3D測(cè)量。
容納各類樣品
可以容納更多的樣品類型和尺寸
新型150×100mm載物臺(tái)在X方向上提供了比以前的型號(hào)更大的行程。再加上其載物臺(tái)板的平板式設(shè)計(jì),可以輕松地將大樣品,或多個(gè)樣品放置在載物臺(tái)上。載物臺(tái)板上開有小孔,可用于固定樣品架。更大的載物臺(tái)為用戶提供了靈活性,使他們能夠在一臺(tái)顯微鏡上檢查更多的樣品,從而節(jié)省了寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間??烧{(diào)節(jié)扭力的載物臺(tái)方便了高倍下窄視野的微調(diào)定位。
樣品高度和重量的高適應(yīng)性
BX53MRF-S
使用選配的模塊組件可以將高105mm的樣品放置在載物臺(tái)上。由于改進(jìn)了調(diào)焦機(jī)構(gòu),因此顯微鏡可以容納最重6kg的總重量(樣品+載物臺(tái))。這就意味著BX3M可以檢查更大、更重的樣品,從而減少了實(shí)驗(yàn)室內(nèi)所需的顯微鏡數(shù)量。通過戰(zhàn)略性地將用于6英寸晶圓的旋轉(zhuǎn)托架放置在偏離中心的位置,在100mm行程范圍內(nèi)移動(dòng)時(shí),用戶僅旋轉(zhuǎn)晶圓托架即可觀察整個(gè)晶圓表面。優(yōu)化了載物臺(tái)的扭力調(diào)節(jié),以便于使用,舒適的手柄使用戶更易于找到樣品的感興趣區(qū)域。
樣品尺寸大小的靈活性
BXFM
如果樣品太大,難以放置在常規(guī)顯微鏡載物臺(tái)上,則可以把用于反射光顯微鏡觀察的核心光學(xué)部件組裝到一個(gè)模塊化的系統(tǒng)里。這種模塊化系統(tǒng),就是BXFM,它可以通過一個(gè)支撐桿安裝在更大的支架上,或使用安裝托架安裝在另一臺(tái)儀器上。這就使用戶能夠充分利用奧林巴斯優(yōu)異的光學(xué)元件的優(yōu)勢(shì),即使其樣品在尺寸或形狀上都很好。
兼容ESD:保護(hù)電子裝置,防止受到靜電放電的影響
BX3M具有ESD靜電消除能力,防止電子裝置受到由人為或環(huán)境因素而導(dǎo)致的靜電的影響。
悠久歷史的光學(xué)技術(shù)
奧林巴斯公司擁有高品質(zhì)光學(xué)儀器研發(fā)的悠久歷史,創(chuàng)造了多項(xiàng)光學(xué)質(zhì)量的記錄,保證了顯微鏡優(yōu)異的測(cè)量精度。
光學(xué)性能:波像差控制
使用顯微鏡進(jìn)行高級(jí)研究或系統(tǒng)集成時(shí),所有物鏡的光學(xué)性能必須標(biāo)準(zhǔn)化。奧林巴斯的UIS2物鏡提供了波像差控制,大程度減小了會(huì)降低分辨率的像差,從而獲得數(shù)值孔徑(NA)和工作距離(WD)性能指標(biāo)。
穩(wěn)定的色溫和高強(qiáng)度白光LED照明
BX3M為反射光和透射光照明提供了高強(qiáng)度的白光LED光源。無論強(qiáng)度是多少,LED都保持著一致的色溫。LED提供了高效而長(zhǎng)壽命的照明,是材料學(xué)檢測(cè)應(yīng)用的理想工具。
支持精密測(cè)量:自動(dòng)校準(zhǔn)
類似于數(shù)碼顯微鏡,使用奧林巴斯Stream軟件時(shí)也能夠?qū)嵤┳詣?dòng)校準(zhǔn)。自動(dòng)校準(zhǔn)消除了校準(zhǔn)過程中的人為變化因素,能夠獲得更可靠的測(cè)量結(jié)果。自動(dòng)校準(zhǔn)的算法采用多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的平均值來自動(dòng)計(jì)算正確的校準(zhǔn)量。這就大程度減小了不同操作者產(chǎn)生的差異,保持了一致的精確性,提高了定期驗(yàn)證的可靠性。
應(yīng)用
反射光顯微鏡檢查涵蓋的應(yīng)用和行業(yè)非常廣泛,下面僅選擇了使用不同觀察方法效果的部分示例。
暗場(chǎng)觀察
暗場(chǎng)能夠觀察標(biāo)本上的散射或衍射光。任何不平整的部位都會(huì)反射這種光,而平整的部位則顯得很暗,因此缺陷部位就會(huì)清晰地顯示出來。用戶甚至可以識(shí)別出極細(xì)微的劃痕,或小到8nm級(jí)別的缺陷 – 比光學(xué)顯微鏡的分辨能力還要小。因此,暗場(chǎng)是檢測(cè)標(biāo)本上細(xì)微劃痕或缺陷,以及鏡面標(biāo)本(包括晶圓)的理想工具。
表面貼裝基板:DF
微分干涉觀察
微分干涉是一種顯微鏡觀察技術(shù),這種技術(shù)把明場(chǎng)觀察所不能檢測(cè)到的標(biāo)本高度差,變?yōu)楦〉駹罨蛉S圖像,改善了圖像襯度。該技術(shù)使用了偏光,并有三種專門定制設(shè)計(jì)的棱鏡可以選擇。它是檢查具有極細(xì)微高度差的標(biāo)本的理想工具,包括金相組織、礦石、磁頭、硬盤介質(zhì)和拋光晶圓表面。
球墨鑄鐵檢測(cè):DIC
偏光觀察
這種顯微鏡觀察技術(shù)使用了由一套濾色片(檢偏鏡和起偏鏡)產(chǎn)生的偏光。標(biāo)本的特性直接影響顯微鏡反射光的強(qiáng)度。這種技術(shù)適用于金相組織(比如球墨鑄鐵上石墨生長(zhǎng)的形態(tài))、礦石、LCD和半導(dǎo)體材料。
絹云母:POL