750175 人工晶體波前測量儀
- 公司名稱 聯(lián)合光科技(北京)有限公司
- 品牌 聯(lián)合光科
- 型號 750175
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/4/2 10:11:23
- 訪問次數(shù) 61
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)鏡片,高功率激光窗口鏡片,定制光學(xué)元件,偏振元件,英國ULO CO2紅外光學(xué)材料,鏡片,光學(xué)器件,光機(jī)械部件,壓電電控平臺,光學(xué)防震桌,光學(xué)調(diào)整架,手動位移臺,光機(jī)組件,光橋系統(tǒng),全系列高品質(zhì)工業(yè)成像鏡頭,定焦,遠(yuǎn)心,線掃,變焦變倍,特殊定制鏡頭,照明光源,德國MarOpto輪廓儀,干涉儀,傾斜波干涉儀,斐索干涉儀,動態(tài)干涉儀,干涉測量軟件,斷面檢測,表面檢測,德國Dioptic ARGOS 表面疵病檢測儀,光纖端面缺陷檢測,日本壺坂Tsubosaka 鏡頭,相機(jī)鬼影,雜散光測試系統(tǒng),可調(diào)色溫,亮度光源,鏡頭焦點(diǎn)偏差,光圈,閃光燈,快門測量,手機(jī)防抖測試系統(tǒng),太陽燈,美國 Bristol 非接觸式測厚儀,美國Optometrics 衍射光柵,分光器件,線柵偏振片,Minichrom™ 單色儀等,德國Artifex-光功率計(jì),跨阻抗放大器,門控積分放大器,LIV激光二極管和LED特性測試系統(tǒng),積分球,激光二極管驅(qū)動器,波蘭inframet 可見光電視相機(jī)測試系統(tǒng)(TVT),紅外熱像儀測試系統(tǒng)(DT、LAFT、SAFT),夜視儀測試系統(tǒng)(NVT、NVS、NVB),激光測距機(jī)測試系統(tǒng)(LT、LTF、LTE),二代像管像增強(qiáng)器測試系統(tǒng)(ITS-I、ITS-P、ITS-R),條紋管測試系統(tǒng)(SPT、STT),多傳感器測試系統(tǒng)(JT、MS),被動式THz成像儀測試系統(tǒng)(THP),短波成像儀測試系統(tǒng)(ST),紫外成像儀測試系統(tǒng)(UT)以及紅外熱像儀計(jì)算機(jī)模擬器(Simterm)等,美國Headwall高光譜成像,拉曼光譜儀、衍射光學(xué)元件,SPF防曬指數(shù)測試儀,大氣測量輻射計(jì),光度計(jì),Mini-Chrom單色儀,激光二極管測試分析系統(tǒng),積分球,激光功率探測器,光伏測試太陽模擬器,固態(tài)光電倍增管等等
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
全歐光學(xué)WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡,非球面透鏡和光學(xué)系統(tǒng)的波前測量,集成了準(zhǔn)直系統(tǒng),擴(kuò)束或縮束系統(tǒng),高精度樣品臺,多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理,用于平面、球面、非球面面型的檢測,光學(xué)系統(tǒng)像差檢測,輸出激光光束質(zhì)量檢測,光束動態(tài)變化檢測,自適應(yīng)系統(tǒng)波前的探測,并有針對大口徑光學(xué)和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠(yuǎn)心鏡頭的全場波前,還可給出被測樣品的面型(PV和RMS),澤尼克系數(shù)(Zernike),點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(PSF),調(diào)制傳遞函數(shù),斯特列爾比,楔角。同時,該產(chǎn)品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測,晶體低階和高階的相差,晶體的調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF),晶體的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(PSF),晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能,簡單易用,用戶可根據(jù)需要進(jìn)行選擇。
WaveMaster® IOL 2是一款基于波前測量,可用于單焦、環(huán)曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。它是一款可以用于研發(fā),也可用于的生產(chǎn),主要測量屈光度,像差以及基于波前分析計(jì)算的快速M(fèi)TF測量。該設(shè)備可支持人工晶體在空氣中及模擬眼環(huán)境中測量,也可實(shí)現(xiàn)對環(huán)曲面人工晶體的MTF測量。
應(yīng)用范圍
人工晶體在空氣中和模擬眼中的波前檢測
屈光度和散光度的檢測
低階和高階像差(澤尼克分析)的檢測
像質(zhì)(MTF)檢測
環(huán)形人工晶體的軸偏差及標(biāo)識自動識別