MultiMode"是受歡迎的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度認(rèn)可，迄今為止數(shù)以萬計(jì)的布魯克MultiMode-8 高分辨掃描探針顯微鏡已經(jīng)成功安裝使用。有超高分辨率完備的儀器性能，多功能性，以及得到充分驗(yàn)證的表現(xiàn)和實(shí)驗(yàn)可靠性，莫定了其在AFM領(lǐng)域的Bruker作為生命科學(xué)和分析儀器領(lǐng)域出色的LDZ，始終致力于為用戶提供解決方案，總結(jié)成功的經(jīng)驗(yàn)，不斷創(chuàng)新推出了MultiMode"系列的型號(hào)MultiMode8。使用Bruker的技術(shù)Peak Force Tapping掃描模式，獲得更多的樣品信息，操作更簡單，性能更*，大大提高了工作效率。

特點(diǎn)：

l 簡便易行，輕松獲得專業(yè)結(jié)果

l 功能強(qiáng)大的定量成像模式

l 具有分辨率和測試性能

l 功能完備，適用于各研究領(lǐng)域

l 操作高效簡便，數(shù)據(jù)精確可靠

應(yīng)用：

作為AFM儀器領(lǐng)域的LDZ，Bruker竭盡所能地為客戶提供優(yōu)質(zhì)儀器產(chǎn)品和測量技術(shù)，幫助他們在各領(lǐng)域完成科研工作，獲得出色的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。Bruke始終秉持為所有的分析任務(wù)提供解決方案的理念，基于AFM最基本的操作平臺(tái)，勇于創(chuàng)新，開發(fā)和生產(chǎn)了具有各種功能的AFM配件，不斷提高儀器的系統(tǒng)穩(wěn)定性，改儀器的操作性，將AFM功能發(fā)揮到JZ，開發(fā)出具有更高分辨率、更穩(wěn)定的控制系統(tǒng)、更簡便的操作模式的新型AFM儀器，鞏固了Bruker在AFM領(lǐng)域的LD地位。

1、提高液體環(huán)境下AFM測試功能：針對(duì)液體環(huán)境掃描，布魯克MultiMode-8 高分辨掃描探針顯微鏡配備防漏液掃描管，并且對(duì)掃描管配備保修服務(wù)?？梢赃x擇開放式或者密閉式的方法向液體池內(nèi)注液，根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求選擇不同材料的O型圈以支持其在更多的液體環(huán)境下工作。

2、針對(duì)掃描模式設(shè)計(jì)的新型探針：Bruker是一家擁有探針工廠的AFM生產(chǎn)商可以根據(jù)產(chǎn)品需求，研發(fā)和設(shè)計(jì)用于常規(guī)AFM實(shí)驗(yàn)和Bruker的AFM掃描模式的特殊探針，包括常規(guī)的硅探針、氮化硅探針和其他特殊材質(zhì)的探針。

3、成套的環(huán)境控制配件：一些對(duì)氧氣或水分敏感的特殊材料，例如典型的有機(jī)光伏器件和鋰離子材料，需要水分和氧氣的含量維持在<1ppm 的苛刻環(huán)境。當(dāng)普通的控制腔不能滿足這些條件時(shí)，Bruker的turnkey手套箱是解決方案。

備選配件實(shí)現(xiàn)測量要求

1、溫度和環(huán)境控制配件：Bruker致力于解決各類特殊實(shí)驗(yàn)條件下所面臨的科學(xué)問題，配備有溫度控制配件，MultiMode8可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)需要對(duì)樣品進(jìn)行加熱或者降溫，獲取預(yù)期的檢測結(jié)果。安裝具有低幅溫控區(qū)間的配件，可以在大氣下或者溶液環(huán)境中，選擇-35到100℃C區(qū)間內(nèi)的任一溫度對(duì)樣品進(jìn)行加熱或者冷卻。具有高幅溫控區(qū)間的配件則可以加熱到250℃℃，可用來觀測高分子材料的相轉(zhuǎn)變過程。整個(gè)過程中，采取氣體保護(hù)，防止樣品氧化和針尖污染。另外還專門研發(fā)了針對(duì)生命科學(xué)研究的環(huán)境配件，保證研究過程是在生理?xiàng)l件下完成。除了上述的溫度配件，還可以集成或者單獨(dú)配備環(huán)境控制配件，控制環(huán)境中的含氧量、濕度、pH值、CO,濃度以及其他實(shí)驗(yàn)所需特殊條件，幫助您完成更好的研究工作。

2、電化學(xué)和掃描隧道顯微鏡：MultiMode8可以選配全套的電化學(xué)(EC)配件，包括EC-AFM、EC-STM，還有Bruker的掃描電化學(xué)勢顯微鏡(SECPM)。與之前提到過的環(huán)境控制配件結(jié)合，在手套箱中，能夠?qū)y量環(huán)境中的水分和氧氣的含量維持在<1ppm的水平，從而實(shí)現(xiàn)有機(jī)光伏器件和鋰離子電極的原位納米電學(xué)和電化學(xué)性質(zhì)測量。