奧林巴斯礦石分析儀
- 公司名稱 北京新源志勤科技開發(fā)有限責任公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/11/7 14:56:09
- 訪問次數(shù) 623
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應用領域 | 綜合 |
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奧林巴斯礦石分析儀:用于現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測礦石元素種類及其含量。手持式礦石光譜儀:應用于地質(zhì)勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉。
使用手持式礦石光譜儀完成X射線熒光地質(zhì)測井
奧林巴斯礦石分析儀具有很高的分析性能,可以實時提供地球化學數(shù)據(jù),從而有助于快速確定土壤、巖石 和礦石的多元素特征。當前在便攜式XRF技術(shù)上的重大進展,大幅降低了檢測時間,優(yōu)化了檢出限,并增加了可測元素 的數(shù)量。如今地質(zhì)工作者通常會使用來自Vanta分析儀的巖石地球化學信息識別巖石的類型。Vanta分析儀還可以參與完 成一些標準的地質(zhì)測井工作(如:分析土壤、鉆屑和巖芯),因為Vanta分析儀可以在采樣地點即時提供客觀的化學成分 數(shù)據(jù)。在進行常規(guī)視覺測井的同時甚至之前,可以使用這些數(shù)據(jù)對巖石進行分類,并解讀巖石蝕變和礦化的原因。
Vanta手持式礦石光譜儀所獲得的數(shù)據(jù)有助于辨別巖石的類型并完成蝕變測井。
通過手持式礦石光譜儀獲得的數(shù)據(jù)完成地質(zhì)測井
在地質(zhì)測井工作中,地球科學家通過肉眼觀察,將包含土壤、鉆屑、石塊和鉆芯在內(nèi)的不同樣本的巖石類型、蝕變情況、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造及其它特征記錄下來。地球科學家一般使用測井圖表(地質(zhì)編錄)將所觀察到的特征或順磁特性記錄下來,其中包括:顏色、粒徑大小、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造走向、層理、蝕變、質(zhì)變和橫切。
地質(zhì)測井能力是地球科學家經(jīng)過對巖石和礦床的采集樣本進行多年的理論研究后,再經(jīng)過多年在原地或使用鉆屑樣本對巖石的地質(zhì)特性進行野外觀察而獲得的一項基本技能。只有這樣,地球科學家才可以具備開展詳細深入的野外測井工作的資格,以在全球范圍內(nèi)研究地質(zhì)方面的復雜性和多樣性。因此,在礦產(chǎn)勘探業(yè)中人們經(jīng)常會說:“見到多巖石的地質(zhì)學家,為勝者"!
便攜式XRF技術(shù)以及其它分析技術(shù)正在改變我們?nèi)粘氖碌默F(xiàn)代化測井的方式。向地理信息系統(tǒng)(GIS)、地質(zhì)信息管理系統(tǒng)(GIMS),以及3維可視化和建模軟件包實時傳送客觀測井信息的技術(shù),使采礦行業(yè)獲得了革命性的發(fā)展。
地質(zhì)信息管理系統(tǒng)(GIMS)正在顯示來自奧林巴斯便攜式XRF分析儀的實時地球化學數(shù)據(jù)。
視覺測井具有主觀性
視覺地質(zhì)測井的主要問題是每個地球科學家對于所看到的巖石都有他們自己的經(jīng)驗、觀點和想法。如果把多個地球科學家針對某個特定項目得到的數(shù)據(jù)綜合在一起,則會使情況變得非常復雜。圖1說明了視覺觀察的主觀性,圖中顯示了8個地球科學家針對同一個巖石層序所提供的測井數(shù)據(jù)。圖中有7個不同的結(jié)果(第6個或第7個地球科學家復制了對方的結(jié)果)。
圖1.擁有不同經(jīng)驗的8個地質(zhì)學家觀察同一個巖石層序所獲得的結(jié)果。
手持式礦石光譜儀
應用于地質(zhì)勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)控等領域。
礦產(chǎn)勘探
1、 在地質(zhì)勘探的調(diào)查、犁地、挖溝等階段中,采集礦區(qū)的地球;
2、化學數(shù)據(jù),以建立礦區(qū)模型、繪圖,迅速幫助用戶決策;
3、現(xiàn)場快速追蹤礦化異常,有效地尋找"熱點"地帶,定義鉆孔;
4、目標,擴展土壤樣本的勘察邊界;
5、預篩選樣本,極大地提高在現(xiàn)場以外的實驗室檢測的效率;
6、鉆孔時,可以對空心、RAB、RC 、鉆石芯等樣本進行分析。
礦石開采,品位、過程控制
1、對礦石交易、決策提供理論依據(jù);
2、在露天礦場對鉆孔樣本進行即時篩檢,從而在搬運礦石/廢料方面提高了效率;
3、對儲礦堆的現(xiàn)場分析有助于為工廠迅速配料和給料;
4、對于進料、精礦、尾料的實時分析,使得在處理廠內(nèi)就可以對材料的配量隨時進行調(diào)整;
5、在礦場應用中,通常需要對具體的樣本和基質(zhì)進行特別校準;
6、分析儀使用多種校準模型可以極為方便地進行設置和操作,從而可保證在實際檢測分析過程中發(fā)揮出性能,甚至在富于挑戰(zhàn)性的輕元素(鎂、鋁、硅)分析中,也能獲得精準的數(shù)據(jù)。