奧林巴斯OLYMPUS 45MG超聲波測厚儀

操作簡便、堅固耐用、性能可靠

奧林巴斯olympus 45MG是一款配備有標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。45MG超聲波測厚儀具有特色的儀器與奧林巴斯的所有雙晶和單晶測厚探頭相兼容，是一款集多種解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。

奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀標準功能：

提供基本配置的45MG超聲波測厚儀是一款簡單易學的測厚儀，操作人員只需少量的培訓，就可以處理大多數(shù)常見的測厚應(yīng)用。不過，添加了可選購軟件選項和探頭之后的45MG儀器，就會變成一款非常先進的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。

• 與所有奧林巴斯雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕金屬的厚度進行測量

• 最小值/最大值模式

• 兩個報警模式

• 差值模式

• 時基B掃描

• 縮減率

• 增益調(diào)整（標準、高、低）

• 通過密碼鎖定儀器

在惡劣環(huán)境中正常操作

• 堅固耐用，設(shè)計符合IP67標準。

• 爆炸性氣氛測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試。

• 撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。

• 振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。

• 寬泛的操作溫度范圍

• 可選購帶有支架的橡膠保護套

儀器設(shè)計，便于操作

• 簡潔的鍵區(qū)，只用單手（左手或右手）即可操控儀器

• 瀏覽方便的用戶界面，可直接訪問大多數(shù)功能

• 內(nèi)置microSD存儲卡和可插拔microSD存儲卡的存儲方式

• USB通信端口

• 可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形

• 默認或自定義單晶探頭設(shè)置（可選購）

• 通過密碼保護方式鎖定儀器

• 彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有很高的清晰度

可選功能

只需幾次按鍵，即可完成從簡單的腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供5個需密碼激活的軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測厚儀行列。

• 回波到回波/穿透涂層（THRU-COAT）：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，兩種厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面上的漆層或涂層。

• 單晶：這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

• 單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。

• 數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。

• 帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描：用戶使用這個可選配實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中大幅增強測量性能。這個有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲等參數(shù)。

奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀技術(shù)參數(shù)：

奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀使用雙晶探頭：

45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受到了腐蝕或侵蝕的管道、管子、箱體、壓力容器、船體外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。在這些應(yīng)用中通常使用雙晶探頭。

• 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能

• 當校準過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告

• 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面

• 高溫測量：可測量溫度高達500 °C的材料

B掃描成像（基于時間）

45MG測厚儀所提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。這個標準功能非常有用，因為可觀察到材料的厚度值隨著探頭的移動而發(fā)生的變化。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)最小值功能用于顯示已掃查區(qū)域的最小厚度值?？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器最多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。

高溫表面

45MG測厚儀配上D790系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達500 oC）的理想選擇，可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的準確性。

回波到回波

測厚儀通過使用多重底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：

• 自動回波到回波

• 手動回波到回波（僅用于A掃描選項），可進行以下操作：

• 增益調(diào)整

• 擴展空白

• 回波空白

穿透涂層技術(shù)

使用單晶探頭：

對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量

使用單晶探頭可以準確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供多種頻率、直徑和連接器樣式的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。

• 在使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。

• 高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料

• 測量厚度、聲速或渡越時間

• 自動調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置用于當前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作

單晶軟件選項

使用單晶軟件選項可以完成分辨率高達0.001毫米的精確厚度測量?？膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容?？蓽y量以下材料和產(chǎn)品：

• 大多數(shù)薄材料和厚材料

• 壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管子、管道及薄片材料

• 壁厚薄如0.10毫米的金屬容器、鋼卷材、機加工部件

• 汽缸孔、渦輪葉片

• 玻璃燈泡、瓶子

• 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料

• 曲面部位或內(nèi)圓角半徑較小的容器

單晶高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。

• 大多數(shù)較厚或聲波衰減性較強的材料

• 厚金屬鑄件

• 厚橡膠輪胎、履帶

• 玻璃纖維船體、儲罐

• 復合材料板

• 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米