水 NEW日本電子SEM

　　只需選擇目標(biāo)視野“簡單SEM”支持日常工作。

　　樣品：電子元件

　　加速電壓：15 kV，放大倍數(shù)：×50（上部）×1,000（下部），信號：BE

　　JSM-IT510 InTouchScope™日本電子SEM樣品交換導(dǎo)航

　　從樣品交換引導(dǎo)至自動觀察安全簡單！

　　1.按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品

　　測量樣品高度

　　2.準(zhǔn)備抽真空觀察

　　*1樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）是選配件

　　*2大區(qū)域樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件

　　*3樣品室相機(jī)（CS）是選配件

　　3.自動開始觀察

　　真空完成后自動成像

　　ZeromagJSM-IT510 InTouchScope™日本電子顯微鏡輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)圖像與SEM圖像之間的無縫轉(zhuǎn)換

　　Zeromag功能簡化了導(dǎo)航，提供從光學(xué)圖像到SEM圖像的無縫過渡。

　　SEM、光學(xué)圖像和樣品臺示意圖全部鏈接在一起，以獲得分析位置的全局視圖。

　　樣品：菊石化石加速電壓：7kV信號：BE

　　實(shí)時分析/實(shí)時引導(dǎo)圖*2

　　1.SEM觀察的同時掌握該區(qū)域的元素組成

　　實(shí)時分析是一項(xiàng)在圖像觀察期間實(shí)時顯示EDS光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。

2.簡單分析最多點(diǎn)擊3次即可開始EDS分析

　　多種高級選項(xiàng)

　　1.NEW低真空混合二次電子探測器（LHSED）*

　　該新型探測器可以收集電子和光子信號，并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像

　　2.NEW實(shí)時3D新多向分割BE探測器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時3D圖像。

　　即使樣品具有細(xì)微的表面起伏，實(shí)時3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來，并獲取其深度信息。

　　樣品：螺釘加速電壓：15kV放大倍數(shù)：x100信號：BE

　　3.蒙太奇

　　蒙太奇功能可以自動獲取多個小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

　　樣品：菊石化石

　　加速電壓：15kV放大倍數(shù)：x150信號：BE視野數(shù)：13 x 13

　　4.顯示信號深度

　　此功能實(shí)時顯示被測樣品的分析深度（近似數(shù)值），對元素分析非常有用。