線掃描工具可處理 Anritsu 手持式射頻儀器系列的軌跡,以天線和線纜服務(wù)需要的測量結(jié)果為重點(diǎn)。 例如回?fù)p、故障點(diǎn)定位、PIM 測量,甚至部分 S11 測量。
線掃描工具兼容其他較早的 Site Master 生成的軌跡,甚至早至 Site Masters A 系列,例如 S331A。
支持的儀器 |
產(chǎn)品系列 | 儀器 | 線纜和天線分析儀模式測量 | 傳輸測量 | 雙端口電纜損耗或雙端口增益 | 無源互調(diào) (PIM) 測量 | 史密斯圖 |
Site Master | S113B | X | | | | X* |
S114B | X | | | | X* |
S251B | X | | | | X* |
S331B | X | | | | X* |
S332B | X | | | | X* |
S113C | X | | | | X* |
S114C | X | | | | X* |
S251C | X | | | | X* |
S331C | X | | | | X* |
S332C | X | | | | X* |
S810C | X | | | | X* |
S820C | X | | | | X* |
S311D | X | X | | | X* |
S312D | X | X | | | X* |
S331D | X | X | | | X* |
S332D | X | X | | | X* |
S325D | X | | | | X* |
S810D | X | | X | | X* |
S820D | X | | X | | X* |
S820E | X | X | X | | X |
S331E | X | X | | | X* |
S332E | X | X | | X | X |
S361E | X | X | | | X |
S362E | X | X | | X | X |
S331L | X | | | | X* |
S331P | X | X | | | X* |
PIM Master | MW82119A | | | | X | |
MW82119B | | | | X | |
Spectrum Master 支持 PIM 分析儀 MW8208A MW8209A MW8219A | MS2711E | | | | X | |
MS2712E | | | | X | |
MS2713E | | | | X | |
MS2721B | | | | X | |
MS2722C | | | | X | |
MS2723C | | | | X | |
MS2724C | | | | X | |
MS2725C | | | | X | |
MS2726C | | | | X | |
Cell Master | MT8212A | X | | | | X* |
MT8212B | X | | | | X* |
MT8212E | X | X | | X | X |
MT8213E | X | X | | X | X |
BTS Master | MT8222A | X | | | X | X |
MT8221B | X | | X | X | X |
MT8222B | X | | X | X | X |
MT8220T | X | | X | X | X |
支持的儀器 |
產(chǎn)品系列 | 儀器 | 共場模式測量 | 插入損耗 | 史密斯圖 | 共矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量 |
LMR Master | S412D | X | | X* | |
S412E | X | X | X | X |
VNA Master | MS2024A | X | | X | X |
MS2026A | X | | X | X |
MS2034A | X | | X | X |
MS2036A | X | | X | X |
MS2024B | X | X | X | X |
MS2025B | X | X | X | X |
MS2026B | | | X | X |
MS2028B | | | X | X |
MS2034B | X | X | X | X |
MS2035B | X | X | X | X |
MS2026C | | | X | X |
MS2028C | | | X | X |
MS2036C | | | X | X |
MS2038C | | | X | X |
注釋: - 線掃描工具也可使用已停產(chǎn)的 "A" 系列 Site Masters 采集的手持式軟件工具文件。
- X* = 對于這些儀器,LST 使用其他軌跡創(chuàng)建史密斯圖。
共場模式測量 共矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量