Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡
- 公司名稱 復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
- 品牌 Phenom/飛納電鏡
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2023/12/29 14:18:40
- 訪問次數(shù) 1824
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,冶金,制藥 |
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Phenom Pharos 臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶, FEG 場發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。
Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡配備了 STEM 樣品杯,從另一個(gè)維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。
作為臺(tái)式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,在較低的加速電壓下,減少了電子束對(duì)樣品的損傷,顯著提高了圖像的襯度。在臺(tái)式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。
BF 像:主要是樣品正下方同軸的探測器接收透射電子和部分散射電子。影響明場像襯度(Contrast)的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚,原子序數(shù)(Z)越大,穿透樣品的電子越少,圖像就越暗,因此 BF 像對(duì)輕元素(Z 較?。┍容^敏感。
DF 像:主要是樣品下方非同軸位置的探測器接收散射電子信號(hào)。
HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射電子信號(hào)。原子序數(shù)(Z)越大,散射角也越大,原子核對(duì)入射電子的散射作用越強(qiáng),圖像上更亮。因此又被稱為 Z 襯度像。
三種成像模式各有特點(diǎn),具有不同的成像優(yōu)勢,可以根據(jù)樣品情況搭配使用,成像結(jié)果進(jìn)行互相驗(yàn)證。
煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像
對(duì)比掃描電鏡的背散射電子圖像(BSE),桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素(Z 較小),輕元素散射作用較弱,因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測細(xì)節(jié)。
而桿狀煙草花葉病毒周圍較厚的脂質(zhì)球,電子較難穿透,BF 像上相對(duì)較暗。在 DF 模式下,密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強(qiáng)的衍射,因此在 DF 像上相對(duì)較亮。
Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡規(guī)格參數(shù):
系統(tǒng)兼容:Phenom Pharos G2 臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡
樣品兼容:? 3mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)
成像時(shí)間:< 40 s*
成像模式:BF、DF、HAADF、 自定義**
真空度:0.1, 10 & 60 Pa
分辨率:優(yōu)于 1 nm
* 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時(shí)間
** STEM 具有 11 分割探測器,用戶可以對(duì)其進(jìn)行自定義選擇