UHE系列 Sciencetech UHE太陽模擬器 3A等級 一站式
參考價 | ¥ 1 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 森泉(上海)光電科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 UHE系列
- 產(chǎn)地 加拿大
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/11/1 15:51:28
- 訪問次數(shù) 97
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 觸發(fā)模式 | 穩(wěn)態(tài)式 |
---|---|---|---|
價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,航天,綜合 |
Sciencetech UHE太陽模擬器 3A等級 一站式
配置
兩種系列都可以設(shè)計成垂直向下照射或者水平照射。在垂直向下照射的工作模式下,UHE-NS 和 UHE-NL 都可以產(chǎn)生高度略高于書桌高度的均勻光斑。這種配置使用戶可以在站立或者坐著的時候都可以方便地操作太陽模擬器。
由于有較大的測試區(qū)域和工作距離,可以方便地與其它儀器進行系統(tǒng)集成。
客戶可以選擇多種樣品區(qū)域的配件、可選項儀器配置和配件。
更多的產(chǎn)品信息和尺寸請參見1本產(chǎn)品手冊結(jié)尾處配置的定制化選項。
UHE-NS/NL 模擬器是在我們自己的校準(zhǔn)實驗室中調(diào)整和測試輻照均勻度。我們采用了嚴(yán)格的質(zhì)量控制程序從而確保我們 的模擬器符合客戶的要求。
輻照不均勻度被定義為 :
輻照不均勻度 (%) = (*大輻照度—*小輻照度 ) / (*大輻照度+*小輻照度 ) x 100,%
輻照不均勻度采用以下方法測試:
- 符合 ASTM E 927。 在 6 x 6 網(wǎng)格中測量36點。 探測器不能大于每個網(wǎng)格的尺寸
- 符合 IEC 60904-9 和 JIS C 8912,并可以根據(jù)客戶要求測試。
光譜匹配度通過一個帶有光柵單色儀和寬波段探測器的校準(zhǔn)過的光譜輻射計進行測量。測量分辨率設(shè)定為 < 10nm。
時間不穩(wěn)定性定義為:
時間不穩(wěn)定性 (%) = (*大輻照度—*小輻照度 ) / (*大輻照度+*小輻照度 ) x 100,%
時間不穩(wěn)定性是通過在10秒內(nèi)每秒取20個樣來進行測量。
Sciencetech UHE太陽模擬器 3A等級 一站式