詳詢 臨場熱分析平臺 TASC VISTA
- 公司名稱 無錫浩輝者新材料科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 詳詢
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/9/9 10:45:18
- 訪問次數(shù) 557
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應用領域 | 化工,電子,綜合 |
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臨場熱分析平臺 TASC VISTA——
1、Linkam 變溫系統(tǒng)專屬顯微鏡載臺。
2、上座可向后傾斜方便載臺拆卸。
3、照相機直接架設于物鏡臨場熱分析平臺 TASC VISTA上方避免多次的反射影響影像質(zhì)量。
4、20 LED 數(shù)組式照明。
5、可加裝偏光模塊。
6、500 萬畫素 CMOS相機,分辨率 2448 X 2048。
7、臨場熱分析平臺 TASC VISTA適用各廠牌物鏡。
無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗及對檢測設備及技術的研發(fā)與應用,為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術,以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時,我們會幫助輔導客戶完成整個分析過程,得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。目前服務于各大專院校、研究機構(gòu)、產(chǎn)業(yè)界研發(fā)單位和具備自主研發(fā)能力的大型企業(yè),期望對國內(nèi)外的科研及產(chǎn)業(yè)盡一份心力。
浩輝者科技在過去服務對象中,成功建立了原位分析模式,如溫度、壓力與電位等之檢測分析平臺,用以了解相關材料在實際應用操作下的物理化學特性。包含掃描探針顯微鏡、光學顯微鏡用以進行材料之表面型態(tài)以及表面物理特性分析;顯微三維掃描共軛焦拉曼光譜、顯微紅外光分析儀、X射線繞射儀用以進行材料之鍵結(jié)型態(tài)、官能基型態(tài)以及晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)分析;X射線熒光分析儀用以進行成分原素組成比例分析;熱重分析串接紅外光譜與氣相層析質(zhì)譜儀用以辨別化學結(jié)構(gòu)物質(zhì)之比例組成,透過不同溫度之熱裂解更可進一步了解材料內(nèi)部之相關添加物質(zhì),并結(jié)合鍵結(jié)型態(tài)、官能基型態(tài)以及晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)可進一步推廣至逆向工程檢測服務平臺。透過浩輝者科技的材料檢測分析與逆向工程分析儀器技術平臺,可得知各種材料的完整物理化學特性。