APD-QE 光感測(cè)器量子效率測(cè)量?jī)x

參考價(jià)	￥3000000-￥6000000/件

參考價(jià)

￥3000000-￥6000000/件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司
品牌Enlitech
型號(hào)APD-QE
所在地南京市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/11/7 12:54:40
訪問(wèn)次數(shù) 1449

產(chǎn)品標(biāo)簽

傳感器光感性能測(cè)試光傳感器全光譜量子效率測(cè)試儀光傳感器晶圓測(cè)試儀

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司，專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試及芯片檢測(cè)等系統(tǒng)集成平臺(tái)。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備國(guó)產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺(tái)服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國(guó)內(nèi)晶圓級(jí)在片測(cè)試，器件測(cè)量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商，以滿足國(guó)內(nèi)用戶需求，開(kāi)發(fā)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測(cè)的在專注于在片測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測(cè)試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測(cè)試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測(cè)設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測(cè)試、射頻微波器件測(cè)量，大功率器件測(cè)試、微組裝封裝工藝檢測(cè)、失效分析、材料測(cè)試等應(yīng)用行業(yè)

展開(kāi)

探針臺(tái)，芯片ESD測(cè)試設(shè)備，TLP測(cè)試設(shè)備，CDM測(cè)試設(shè)備

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

測(cè)量模式	直流	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
價(jià)格區(qū)間	200萬(wàn)-400萬(wàn)	應(yīng)用領(lǐng)域	電子,航天,汽車,電氣

光感測(cè)器量子效率測(cè)量?jī)x介紹

隨著5G與移動(dòng)設(shè)備的興起與普及，越來(lái)越多新型光傳感器被應(yīng)用于我們的日常生活中，為了能更好的應(yīng)用在行動(dòng)裝置上，這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些應(yīng)用卻對(duì)先進(jìn)光傳感器的光感測(cè)性能要求卻越來(lái)越高，在感光面積微縮的過(guò)程中，也帶來(lái)量子效率精準(zhǔn)測(cè)量的挑戰(zhàn)；例如，傳統(tǒng)聚光型小光斑在不同波長(zhǎng)下，色散差造成焦點(diǎn)位移可到mm等級(jí)。難以將所有的光子都聚焦到微米等級(jí)的感光面積中。因此，難以準(zhǔn)確測(cè)得全光譜量子效率曲線。

APD-QE 光感測(cè)器量子效率測(cè)量?jī)x采用光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標(biāo)準(zhǔn)的”Irradiance Mode”測(cè)試方式，與各種先進(jìn)探針臺(tái)形成完整的微米級(jí)光傳感器全光譜量子效率測(cè)試解決方案。APD-QE已被應(yīng)用于多種先進(jìn)光傳感器的測(cè)試中，例如在iPhone光達(dá)與其多種光傳感器、Apple Watch血氧光傳感器、TFT影像傳感器、有源主動(dòng)像素傳感器(APS)、高靈敏度間接轉(zhuǎn)換X射線傳感器等。

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