ZEISS Sigma 卡爾蔡司電子顯微鏡SEM
- 公司名稱 北京瑞科中儀科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ZEISS Sigma
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/7/10 15:36:04
- 訪問次數(shù) 1470
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 環(huán)保,化工 |
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卡爾蔡司電子顯微鏡SEM
ZEISS Sigma系列產(chǎn)品
用于高品質(zhì)成像與高級分析的蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能
將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。
Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
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靈活的檢測器選項,獲取清晰圖像
使用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。
使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。
使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。
使用HDBSD或YAG檢測器分析成分。
用戶友好,操作簡單
SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件,用于多用戶環(huán)境,是一種簡潔的用戶界面。
它同時為操作經(jīng)驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。
基于實際的實驗室環(huán)境,SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領域。
但是,非專業(yè)用戶(例如學生,接受培訓不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù),因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi),其用戶界面選項可滿足操作經(jīng)驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。
特點:
用于清晰成像的靈活探測
利用先進探測術為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。
自動化加速工作流程
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。
首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。
接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的最后一步,將結果可視化。
高級分析型顯微鏡
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合:Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。
在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結果。