新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀

產(chǎn)品介紹

新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀采用磁性/渦流測量原理，測量金屬基體上涂鍍層厚度。儀器采用全金屬外殼，經(jīng)過CNC精密機(jī)械加工及陽極氧化處理，并配以不銹鋼上下蓋。儀器從機(jī)身到接插件均做密封處理，*符合IP68防水防塵標(biāo)準(zhǔn)。本儀器可應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、航天航空、鐵路運(yùn)輸、化工業(yè)、商檢業(yè)等檢測領(lǐng)域，是無損檢測行業(yè)*的儀器。

CM30涂層測厚儀可選配探頭： F3：0~3000um N2：0~2000um FN1.5：0~1500um F10：0~10000um。

CM30涂層測厚儀測量方法及注意事項(xiàng)

握住探頭外殼靠近頭部一端。

探頭垂直落于被測物表面，直到儀器屏幕出現(xiàn)數(shù)值。

探頭每次抬離被測物表面高度5cm以上。

若探頭置于被測物表面長時間不出現(xiàn)讀數(shù)，可抬起探頭重新測量，或重啟儀器。

儀器測量界面下部有探頭測量狀態(tài)指示圖標(biāo)，指示探頭處于測量被測物表面（高亮白色）或是探頭抬起（灰色）狀態(tài)

零點(diǎn)調(diào)整

利用無涂、覆層的被測工件或與被測工件形狀、結(jié)構(gòu)相似的工件，對探頭調(diào)零。

一點(diǎn)校準(zhǔn)

利用無涂、覆層的被測工件或與被測工件形狀、結(jié)構(gòu)相似的工件測量標(biāo)準(zhǔn)試片厚度，并調(diào)整儀器數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)試片相同或接近。

兩點(diǎn)校準(zhǔn)

在一點(diǎn)校準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，測量與第一點(diǎn)不同厚度的標(biāo)準(zhǔn)試片，并調(diào)整儀器數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)試片相同或接近。先校準(zhǔn)厚度值較小的試片，再校準(zhǔn)厚度值較大的試片。

技術(shù)參數(shù)

測量參數(shù)