高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）

1       產(chǎn)品介紹

    高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間，以測(cè)量元件的可靠性，無(wú)論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測(cè)試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測(cè)試。腐蝕型故障加速，在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。

    偏置高加速壓力測(cè)試（BHAST）利用與HAST測(cè)試相同的變量（高壓，高溫和時(shí)間），但增加了電壓偏差。BHAST測(cè)試的目標(biāo)是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕，從而加快測(cè)試周期。

HAST加速壓力測(cè)試與THB測(cè)試類似，因?yàn)楣收鲜怯上嗤臋C(jī)制引起的。由此產(chǎn)生的故障以成比例的速率發(fā)生，并且可以在激活引擎之間找到相關(guān)性。電氣設(shè)備/組件更可靠，因此，數(shù)千小時(shí)的THB測(cè)試無(wú)法在短時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)HAST腐蝕故障測(cè)試的弱點(diǎn)。

型的HAST測(cè)試條件包括110或130°C的溫度，85%RH的濕度和96小時(shí)的測(cè)試運(yùn)行時(shí)間。一旦高度加速的壓力測(cè)試完成，測(cè)試的樣品將用防潮袋返回給客戶，并帶有測(cè)試時(shí)間標(biāo)簽。HAST測(cè)試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110，“高加速溫度和濕度壓力測(cè)試（HAST）”。

參考標(biāo)準(zhǔn)

JESD22-A118 （無(wú)偏）

JESD22-A110 （偏置）

IEC 60068-2-66

3       性能特點(diǎn)

l  HAST已被開發(fā)用于取代溫度 - 濕度偏差（THB）測(cè)試

l  HAST使用110至130 ?C的測(cè)試溫度，與THB測(cè)試相比，將測(cè)試時(shí)間縮短至96小時(shí)

l  干燥）高溫 130C， 相對(duì)濕度 85%， 壓力 33.3 psia

l  （濕）高溫110C，相對(duì)濕度35%，壓力17.7標(biāo)準(zhǔn)

4       應(yīng)用領(lǐng)域

l  電子學(xué)

l  半導(dǎo)體

l  太陽(yáng)能

l  藥品

l  空間應(yīng)用

高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）