TIFAS-IR Nanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀
- 公司名稱 上海怡賽科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) TIFAS-IR
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2023/2/20 14:58:29
- 訪問次數(shù) 1281
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,冶金,航天,電氣 |
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Nanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀
當(dāng)熱量從器件發(fā)熱點(diǎn)(源)向環(huán)境中傳遞過程中,偶爾會(huì)遇到一些熱的阻礙物,通常這些熱阻礙物會(huì)非常嚴(yán)重的影響器件的可靠性。通過直接觀察熱的產(chǎn)生和其傳遞的路徑是發(fā)現(xiàn)這些缺陷癥狀的有效方法。
TIFAS IR是一個(gè)高度集成的桌面型紅外熱成像法失效分析儀,可應(yīng)用于幾乎所有材料的失效分析。通過觀察電子器件、系統(tǒng)、復(fù)合物、多層聚合物或燒結(jié)零配件的全波段光譜來判斷其綜合結(jié)構(gòu),如雜質(zhì)、缺陷以及形貌等。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)試時(shí)間:1-10 s
IR相機(jī)像素:382*288px (可提供更寬范圍)
觀測(cè)區(qū)域:95 mm x 123 mm(可提供更寬范圍)
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