賽默飛Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束電鏡
- 公司名稱(chēng) 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/28 13:14:53
- 訪問(wèn)次數(shù) 1764
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| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 1000萬(wàn)-1500萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 儀器分類(lèi) | FIB |
創(chuàng)新點(diǎn)：
賽默飛Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束電鏡通過(guò)自動(dòng)上樣系統(tǒng)，Thermo Scientific™ Arctis™ Cryo-PFIB 可自動(dòng)上樣、自動(dòng)處理樣品并且可存儲(chǔ)多達(dá) 12 個(gè)冷凍樣品。與任何配備自動(dòng)上樣器的冷凍透射電鏡（如 Thermo Scientific Krios™ 或 Glacios™）直接聯(lián)用，省去了在 FIB-SEM 和透射電鏡之間的手動(dòng)操作載網(wǎng)和轉(zhuǎn)移的步驟。為了滿足冷凍聚焦離子束電鏡與透射電鏡應(yīng)用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 還采用了全新的高真空樣品倉(cāng)和經(jīng)過(guò)改進(jìn)的冷卻/保護(hù)功能。
Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束專(zhuān)為自動(dòng)化冷凍電子斷層掃描成像樣品的制備而設(shè)計(jì)。用戶可以穩(wěn)定地在原位制備厚度約為 200nm 或更薄的冷凍薄片，同時(shí)避免產(chǎn)生鎵 (Ga) 離子注入效應(yīng)。與目前市場(chǎng)上的其他 cryo-FIB-SEM 系統(tǒng)相比，Arctis Cryo-PFIB 可顯著提高樣品制備通量。
與冷凍透射電鏡和斷層成像工作流程直接相連
通過(guò)自動(dòng)上樣系統(tǒng)，Thermo Scientific™ Arctis™ Cryo-PFIB 可自動(dòng)上樣、自動(dòng)處理樣品并且可存儲(chǔ)多達(dá) 12 個(gè)冷凍樣品。與任何配備自動(dòng)上樣器的冷凍透射電鏡（如 Thermo Scientific Krios™ 或 Glacios™）直接聯(lián)用，省去了在 FIB-SEM 和透射電鏡之間的手動(dòng)操作載網(wǎng)和轉(zhuǎn)移的步驟。為了滿足冷凍聚焦離子束電鏡與透射電鏡應(yīng)用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 還采用了全新的高真空樣品倉(cāng)和經(jīng)過(guò)改進(jìn)的冷卻/保護(hù)功能。
賽默飛Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束電鏡的主要特點(diǎn)
與光學(xué)顯微鏡術(shù)關(guān)聯(lián)以及在透射電鏡中重新定位
"機(jī)載"集成寬場(chǎng)熒光顯微鏡 (iFLM) 支持使用光束、離子束或電子束對(duì)同一樣品區(qū)域進(jìn)行觀察。 特別設(shè)計(jì)的 TomoGrids 確保從最初的銑削到高分辨率透射電鏡成像過(guò)程中，冷凍薄片能與斷層掃描傾斜軸始終正確對(duì)齊。
iFLM 關(guān)聯(lián)系統(tǒng)能夠在電子束和離子束的匯聚點(diǎn)處進(jìn)行熒光成像。無(wú)需移動(dòng)載物臺(tái)即可在 iFLM 靶向和離子銑削之間進(jìn)行切換。CompuStage的180° 的傾轉(zhuǎn)功能使得可以對(duì)樣品的頂部和底部表面進(jìn)行成像，有利于觀察較厚的樣品。
TomoGrids 是針對(duì)冷凍斷層掃描工作流程而特別設(shè)計(jì)的，其上下2面均是平面。這2個(gè)面可防止載樣到冷凍透射電鏡時(shí)出現(xiàn)對(duì)齊錯(cuò)誤，并始終確保薄片軸相對(duì)于透射電鏡傾斜軸的正確朝向。 利用 TomoGrids，整個(gè)可用薄片區(qū)域都可用于數(shù)據(jù)采集。
厚度一致的高質(zhì)量薄片
Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡可在多日內(nèi)保持超潔凈的工作環(huán)境，確保制備一致的高質(zhì)量薄片。等離子體離子束源可在氙離子、氧離子和氬離子間進(jìn)行切換，有利于制備表面質(zhì)量出色的極薄薄片。
等離子體聚焦離子束技術(shù)適用于液態(tài)金屬離子源 (LMIS) 聚焦離子束系統(tǒng)尚未涉及的應(yīng)用。例如，可利用三種離子束的不同銑削特性制備高質(zhì)量樣品，同時(shí)避免鎵注入效應(yīng)。系統(tǒng)外殼的設(shè)計(jì)考慮到了生物安全，生物安全等級(jí)較高的實(shí)驗(yàn)室（如生物安全三級(jí)實(shí)驗(yàn)室）可選用高溫消毒解決方案。
Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡的緊湊型樣品室專(zhuān)為冷凍操作而設(shè)計(jì)。由于縮小了樣品室體積，操作環(huán)境異常干凈，最大限度減少水凝結(jié)的發(fā)生。通過(guò)編織套管冷卻樣品及專(zhuān)用凍存盒屏蔽樣品，進(jìn)一步提升了設(shè)計(jì)帶來(lái)的清潔度，確保了可以進(jìn)行多日批量樣品制備的工作環(huán)境。
自動(dòng)化高通量樣品制備和冷凍斷層掃描連接性
自動(dòng)上樣器可實(shí)現(xiàn)多達(dá) 12 個(gè)網(wǎng)格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自動(dòng)上下樣，方便轉(zhuǎn)移到冷凍透射電鏡，同時(shí)最大限度降低樣品損壞和污染風(fēng)險(xiǎn)。通過(guò)新的基于網(wǎng)絡(luò)的用戶界面加載的載網(wǎng)將首先被成像和觀察。 隨后，選擇薄片位置并定義銑削參數(shù)。銑削工作將自動(dòng)運(yùn)行。根據(jù)樣品情況，等離子體源可實(shí)現(xiàn)高銑削速率，以實(shí)現(xiàn)對(duì)大體積材料的快速去除。
自動(dòng)上樣系統(tǒng)為易損的冷凍薄片樣品提供了受保護(hù)的環(huán)境。在很大程度上避免了可能會(huì)損壞或污染樣品的危險(xiǎn)手動(dòng)操作樣品步驟。 自動(dòng)上樣器卡槽被載入到與自動(dòng)上樣器對(duì)接的膠囊中，可在 Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡和 Krios 或 Glacios 冷凍透射電鏡之間互換。
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