NEX LS 掃描多元素在線圖層分析儀

產(chǎn)品概述

能量色散X射線熒光(EDXRF)

為了提供桌越的分析性能和可靠性，EDXRF測(cè)量頭組件源自已建立的NEX系列高分辨率臺(tái)式儀器。憑借其成熟的技術(shù)，Rigaku NEX LS可對(duì)從鋁(Al)到鈾(U)的元素進(jìn)行快速、無(wú)損的多元素分析，包括涂層重量、涂層厚度和/或成分。

涂層厚度和成分

Rigaku NEX LS是專(zhuān)為服務(wù)網(wǎng)絡(luò)和線圈應(yīng)用，有能力執(zhí)行多元素組成，涂層重量或涂層厚度。測(cè)量頭安裝在剛性梁上，并配有位于滾輪上方的線性移動(dòng)機(jī)構(gòu)，因此測(cè)量頭至表面的距離是恒定的。在需要的地方，涂層的元素組成被直接測(cè)量。相反，涂層重量(或涂層厚度)可以直接測(cè)量(其中元素計(jì)數(shù)率與厚度成比例)或通過(guò)測(cè)量一些基底元素的衰減間接測(cè)量(其中計(jì)數(shù)率與厚度負(fù)相關(guān))。

硅樹(shù)脂防粘涂層

臺(tái)式EDXRF光譜儀長(zhǎng)期以來(lái)一直是防粘涂層、轉(zhuǎn)換器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作為阻擋層、防粘涂層或去嵌套劑的行業(yè)所熟悉的技術(shù)。實(shí)時(shí)掃描，更嚴(yán)格的過(guò)程控制公差，將EDXRF硅涂層分析技術(shù)推向了一個(gè)新的高度。硅涂層應(yīng)用于塑料和紙質(zhì)基材，以改變產(chǎn)品(如標(biāo)簽)或包裝的釋放特性。如果施加的硅氧烷太少，或者如果纖維網(wǎng)的某些區(qū)域缺少硅氧烷涂層，則在剝離應(yīng)用中粘合劑的剝離性能將受到不利影響，或者真空成型塑料的脫模特性將受到損害，從而導(dǎo)致制造和其它下游工藝中的產(chǎn)品不合格或中斷。如果使用太多的硅樹(shù)脂，制造的卷的成本會(huì)增加，降低利潤(rùn)，并且在某些情況下會(huì)影響最終產(chǎn)品的接受度和性能。

應(yīng)用領(lǐng)域

• 硅酮釋放涂布機(jī)

• 轉(zhuǎn)換器-塑料或紙上的硅膠

• 真空成型塑料——脫套硅樹(shù)脂涂層

• 特種塑料

• 轉(zhuǎn)化涂層

• 金屬化塑料

• 金屬卷材上的面漆

• 織物上的阻燃劑