SEM4000超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡是一款分析型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長壽命的肖特基場發(fā)射電子槍。三級磁透鏡設計,束流大且連續(xù)可調,在EDS、EBSD、WDS等應用上具有明顯優(yōu)勢。支持低真空模式,可直接觀察導電性弱或不導電樣品。標配的光學導航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。
配備高亮度、長壽命的肖特基場發(fā)射電子槍
分辨率高,30 kV下優(yōu)于0.9 nm的極限分辨率
三級磁透鏡設計,束流可調范圍大,最大支持 200 nA 的分析束流
標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器
無漏磁物鏡設計,可直接觀察磁性樣品
標配的光學導航模式,中文操作軟件,讓分析工作更輕松