SPJD-1200型 四通道同屏對(duì)比測(cè)試高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià) | ¥ 9999 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) SPJD-1200型
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/6 14:28:40
- 訪問(wèn)次數(shù) 1223
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壓電測(cè)試儀,準(zhǔn)靜態(tài)d33測(cè)量?jī)x,d33測(cè)量?jī)x,介電測(cè)量系統(tǒng),壓電測(cè)量系統(tǒng),鐵電材料測(cè)試儀
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,地礦,能源 |
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SPJD-1200型型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量,并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的安全;資料保存機(jī)制,當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù),設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線??蓮V泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、 提供多方位的測(cè)量功能和多元化的價(jià)位, 擁有更出色的測(cè)量精度:
匹配阻抗分析儀是采用自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
2、 采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置。自動(dòng)升溫降溫,測(cè)試功能強(qiáng)大
3、 四通道同時(shí)測(cè)量,提高效率,增加對(duì)比測(cè)試的精度;
材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計(jì)夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高;
溫介電頻譜測(cè)試功能;變溫阻抗測(cè)試功能;掃頻測(cè)試功能;
軟件:采用C#語(yǔ)言編寫,可視化程度高,自動(dòng)測(cè)試,同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù),并圖形化。
1、 專用高頻測(cè)試線纜,更適合高頻測(cè)量:測(cè)試引線使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測(cè)量端口,附帶BNC陽(yáng)頭連接板,用于連接高溫爐的測(cè)試夾具,同時(shí)測(cè)試線采用高頻測(cè)試專用測(cè)試線,設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測(cè)量。
2、 可以實(shí)現(xiàn)多種材料不同功能的測(cè)試,高溫介電,電阻測(cè)試等
探測(cè)采用高精度鉑金電極,抗干擾的能力強(qiáng),測(cè)量精度高
高溫爐加熱均勻,可實(shí)現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測(cè)試
介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線,多種物理參數(shù)可實(shí)時(shí)測(cè)試
專用的分析和測(cè)試軟件,可以自行定義,保存數(shù)據(jù)
主要技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍: -190℃-1000℃
2、測(cè)溫精度: 0.1℃
3.升溫速度: 1—20℃/min
4、控溫模式: 程序控制,提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式
5、通訊接口: RS-485
8、電極材質(zhì): 鉑銥合金
9、上電極: 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層
10、下電極:直徑26.8mm平面電極,引線帶同軸屏蔽層
11、保護(hù)電極: 帶保護(hù)電極,消除寄生電容、邊界電容對(duì)測(cè)試的影響
12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,樣品平臺(tái)帶屏蔽罩
13、夾具升降控制: 帶程序和手動(dòng)控制,可更換夾具的電動(dòng)升降裝置
14、熱電偶 :熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉,測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致
15、無(wú)電極樣品尺寸:直徑小于40mm,厚度小于8mm
16、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm,厚度小于8mm
17、軟件功能:自動(dòng)分析數(shù)據(jù),可以分類保存,樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
18、測(cè)量方案: 提供靈活、豐富的測(cè)試設(shè)置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合
19、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品:8片(10mm*1.5mm)
20、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量
21、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,30MM,40MM壓片夾具
23、測(cè)試頻率:20HZ-10MHZ
24、測(cè)試電平:100mV—2V
25、分辨率:1MHZ
26、輸出阻抗: 100Ω
27、測(cè)試參數(shù):Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
28、基本準(zhǔn)確度: 0.05%
29、顯示:液晶顯示
30、參數(shù)測(cè)量:多功能圖形和參數(shù)測(cè)量
31、接口方式: RS232C或HANDLER
測(cè)試儀器:
高溫介電測(cè)試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、
Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀,其他品牌型號(hào)也可定制開發(fā)
Agilent E4990A
· 五種頻率選擇;20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz,可升級(jí)
· ±0.08%(典型值 ±0.045%)基本阻抗測(cè)量精度
· 25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測(cè)量范圍(10% 測(cè)量精度范圍)
· 測(cè)量參數(shù):|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、復(fù)合 Z、復(fù)合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc
· 內(nèi)置直流偏置范圍:0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA
· 10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線
· 數(shù)據(jù)分析功能:等效電路分析、極限線測(cè)試
Agilent E4294A
覆蓋了很寬的測(cè)試頻率范圍(40hz至110mhz),具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號(hào)電平范圍可用于在實(shí)際工作條件下評(píng)估器件。測(cè)試信號(hào)電平范圍為5mv至1vrms或200ua至20marms,直流偏置范圍為0v至±40v或0ma至±100ma。校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能避免了進(jìn)行夾具內(nèi)器件測(cè)量時(shí)的測(cè)量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設(shè)計(jì)、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)大工具。電路設(shè)計(jì)和開發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。
Agilent E4980A
基本精度為0.1%
測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
高速測(cè)量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測(cè)試量程
變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用)
Wayne Kerr 6500P/B
簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手
電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案
30 ms超高速測(cè)試速度
等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測(cè)試,量測(cè)到0.01mΩ
0.05%基本精確度
可內(nèi)建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias
可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能
20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時(shí)升級(jí) ,最高升級(jí)到120MHz
直覺(jué)的用戶操作接口,USB、LAN、GPIB及HANDLER
可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控,也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲(chǔ)存數(shù)據(jù)
具等效電路仿真功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái)
Tonghui TH29系列
測(cè)試頻率:20Hz-1MHz,分辨率:最高0.1nHz
基本精度:0.05%
測(cè)試速度:最快5.6ms/次
測(cè)試原理:自動(dòng)平衡電橋
高穩(wěn)定性和一致性:高達(dá)15個(gè)測(cè)試量程配置