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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描透射電子顯微鏡>ECHO-LS/ECHO-VS 美國SONIX超聲波掃描顯微檢測系統(tǒng)

ECHO-LS/ECHO-VS 美國SONIX超聲波掃描顯微檢測系統(tǒng)

參考價 1998800
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市泰立儀器儀表有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 ECHO-LS/ECHO-VS
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2022/12/1 8:12:57
  • 訪問次數(shù) 2510

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      深圳市泰立儀器儀表有限公司成立于2005年,無損檢測儀器配套方案提供商,專業(yè)從事:磁導(dǎo)率測量、電導(dǎo)率測量、渦流漏磁、超聲、射線、金相、光譜、材料檢測...測試儀器儀表設(shè)備的代理、銷售和服務(wù)工作。并與國外杰出儀表生產(chǎn)廠商有著廣泛的技術(shù)與銷售合作的良好基礎(chǔ)。德國FOERSTER霍釋特、德國NewSonic、德國Optisense、以色列 ScanMaster、美國Dakota達(dá)高特、英國SONATEST聲納、英國ETHER NDE易德、美國GE通用、等公司的中國區(qū)銷售代理。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、電子、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)藥、能源等各個領(lǐng)域,并服務(wù)于各大企業(yè)、院校、研究所、檢測機(jī)構(gòu)及政府部門等。







超聲波測厚儀,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,超聲波相控陣探傷儀,電導(dǎo)率儀,磁導(dǎo)率儀,汽車車身點焊檢測儀,COMET工業(yè)射線機(jī),工業(yè)內(nèi)窺鏡,工業(yè)CR/DR數(shù)字射線系統(tǒng),熱分析儀

應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,電氣,綜合 掃描范圍 350mm

美國SONIX超聲波掃描顯微檢測系統(tǒng)


簡介

全自動超聲波掃瞄顯微鏡, 晶圓檢測設(shè)備 AutoWafe Pro, 封裝檢測設(shè)備ECHO-LS:

SONIX™公司是世界500強(qiáng)丹納赫集團(tuán)(NYSE: DHR)下的全資子公司,是全球超聲波掃描檢測儀和無損檢測設(shè)備的制造商。 自1986年成立以來,SONIX™在無損檢測領(lǐng)域中不斷改革創(chuàng)新,是一家基于微機(jī)平臺,提供全數(shù)字化成像方案的公司。 SONIX™ 一直致力于技術(shù)革新,提供給客戶的聲學(xué)檢測技術(shù)。

SONIX™ 設(shè)備被廣泛應(yīng)用于各種材料的無損檢測,包括半導(dǎo)體,汽車零件和其他先進(jìn)元件。 擁有獨立開發(fā)的軟件,硬件和技術(shù),這么多年來通過和客戶的不斷合作,實現(xiàn)了SAM技術(shù)的持續(xù)改進(jìn)。 SONIX™ 努力提供最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),圖像質(zhì)量,非凡的操作性和設(shè)備的高可靠性,從而為客戶提高效率,節(jié)約成本。

優(yōu)勢

一 、提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)量,使用ECHO 的設(shè)備和軟件:

(1)容易的設(shè)置和使用

(2)工藝過程監(jiān)測

(3)合格/失效分選

(4)專業(yè)認(rèn)證

二、SONIX 掃描探頭頻率范圍從 10MHz 到 300MHz,適合各種類型的應(yīng)用和材料。

三、SONIX Echo-LS 能檢測到小至 0.05um 的缺陷,而且對于bump、疊 die(3D 封裝)、倒裝芯片及各種傳統(tǒng)的塑料封裝等具有的檢測性能。

SONIX.jpg

封裝檢測設(shè)備

ECHO-LS™

ECHO-VS 超聲波掃描顯微鏡

SONIX ECHO VS™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。廣泛應(yīng)用在 Flip chips,Stacked die,Bumped die,Bonded wafers 等。

● 高分辨率下,掃描速度是傳統(tǒng)超聲波掃描顯微鏡的2.5倍

● 波形模擬器(Waveform Simulator)及波束仿真(Beam Emulator)

● 掃描分辨率小于1微米

● 水溫控制系統(tǒng)及紫外殺菌系統(tǒng)超高頻狀態(tài)工作下,信號更穩(wěn)定

     

ECHO Pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡

全自動生產(chǎn)型:

● 批量 Tray盤和框架直接掃瞄

● 編程自動判別缺陷

● 高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置

● 自動烘干

 

晶圓檢測設(shè)備 AutoWafe Pro.

SONIX AutoWafer Pro™ 是專為全自動晶圓檢測設(shè)計的機(jī)型,主要應(yīng)用在Bond wafer,MEMS 內(nèi)部空洞、離層檢測,TSV量測方面。

● 使用于200和300mm晶圓

● 符合一級凈化間標(biāo)準(zhǔn)

● Cassette裝載,全自動檢測,支持FOUP或FOSB機(jī)械臂

● 支持200mm & 300mm SECS/GEM協(xié)議

● KLARF輸出文件

 

Pulse 2™  信號發(fā)生器/接收器- 適合所有 ECHO & AutoWafer 設(shè)備

● 相對標(biāo)準(zhǔn)的信號發(fā)生器/接收器可獲得 +12dB

● SNR比例(Signal-to-noise Ratio)具備4x 倍進(jìn)展

● 從低層次的背景噪聲中分隔信號

● 產(chǎn)生干凈,清晰的圖像,即使在超高頻的信號轉(zhuǎn)換器

   

超聲波探頭 - 適合所有 ECHO 系列

Sonix S-series Transducer 超聲波探頭是為了滿足半導(dǎo)體制造商的高要求而設(shè)計的:

● 自家研發(fā)

● 頻率范圍寬闊

● 結(jié)構(gòu)堅固

 

可調(diào)的托盤夾具  (NEW !!)

配件編號: 600-5100

使用平臺: ECHO LS, ECHO, ECHO VS

應(yīng)用: 基板, 托盤, 晶圓優(yōu)點:

• 方便使用 - 節(jié)省時間

• 樣品被很好的固定起來掃描, 可獲得更好的圖像

• 托盤, 基板, 晶圓均可使用

• 適用于現(xiàn)有的 ECHO 機(jī)型平臺

• 申請中 

透射桿擴(kuò)展裝置  (NEW !!)

配件編號: 中尺寸 (180mm) 組件編號: 600-2323A / 全尺寸組件編號 : 600-2324A

使用平臺: ECHO LS, ECHO, ECHO VS

應(yīng)用: 晶圓, 托盤, 基板 優(yōu)點:

• 使用方便 - 安裝簡單, 節(jié)省時間

• 2種尺寸 (180mm and 250mm) 可滿足絕大部分產(chǎn)品尺寸需求

• 適用與現(xiàn)有 ECHO 機(jī)型平臺

• *需要 Sonix 新一代大直徑透射桿 

晶圓夾具 (與可調(diào)的托盤夾具搭配使用)   (NEW !!)

配件編號: 600-5200

使用平臺: ECHO LS, ECHO, ECHO VS

應(yīng)用: 300mm 晶圓

優(yōu)點:

• 可以簡單的與 Sonix 申請中的可調(diào)的托盤夾具搭配使用

• 安全固定 300mm 晶圓, 提供最佳的成像能力

• 適用于有翹曲的晶圓, 保持晶圓平整

• 適用于現(xiàn)有的 ECHO 機(jī)型平臺

SONIX 軟件優(yōu)勢

● 可編程掃描,自動分析

   定制掃描程序,一鍵開始掃描,自動完成分析,生成數(shù)據(jù)

     

● FSF表面跟蹤線

   樣品置于不平的情況下,自動跟蹤平面,獲取同一層面圖片

     

● ICEBERG離線分析

   存儲數(shù)據(jù)后,可在個人電腦上進(jìn)行再次分析

     

● TAMI斷層顯微成象掃描

   無需精確選擇波形,可任意設(shè)定掃描深度及等分厚度,一次掃描可獲得200張圖片,最快速完成分析。

     

SONIX 軟件 -  應(yīng)用于塑封FlipChip和Stacked Die產(chǎn)品的成像功能

   

SONIXTM 的Flexible TAMITM設(shè)計

 

專為需要檢測由不同層厚和材料組成的多層封裝產(chǎn)品,例如:

● 3-D架構(gòu)

● Stacked Die

● Bonded wafers

● Wafer 級封裝 (WLP)

● 塑封Flip Chips

 

SONIX 硬件優(yōu)勢

● 緊湊、穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計

   模塊化設(shè)計使得結(jié)構(gòu)簡單、穩(wěn)定,易于維護(hù)

     

● 高速、穩(wěn)定的馬達(dá)設(shè)計

   掃描軸采用的線性伺服馬達(dá),提供高速、穩(wěn)定、無磨損的掃描

     

超聲波探頭/透鏡

   提供精確的缺陷檢驗,最小能探測到僅0.1微米厚度的分層。

       

● PETT技術(shù)

   反射及透射同時掃描,有效提高元器件分析效率

Sonix-1.png


美國SONIX超聲波掃描顯微檢測系統(tǒng)


特點

SONIX Echo-LS 能檢測到小至 0.05um 的缺陷,而且對于 bump、疊 die(3D 封裝)、倒裝芯片及各種傳統(tǒng)的塑料封裝等具有的檢測性能。提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)量,使用 ECHO 的設(shè)備和軟件容易的設(shè)置和使用。

工藝過程監(jiān)測

合格/失效分選

專業(yè)認(rèn)證

SONIX 掃描探頭頻率范圍從 10MHz 300MHz,適合各種類型的應(yīng)用和材料。

優(yōu)勢

減少實驗室空間(占地面積?。?/span>

鍵盤快捷鍵(方便移動操作)

全焊接機(jī)身框架(促進(jìn)平臺穩(wěn)定性)

降低水槽高度(人體工程學(xué)設(shè)計)

可同時進(jìn)行反射掃描和透射掃描

最大 360 度可視

超大掃描面積

水槽底部傾斜(易于排干水)

探頭隨 Z 軸移動(取代托盤上下移動)

可滑動支架

符合歐洲機(jī)械指令

緊湊、穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(低維護(hù))

符合 CE,SEMI S2,NRTL

可滑動的電氣面板(方便維護(hù))

防靜電涂層(安全罩、水槽、門等)

規(guī)格參數(shù):

掃描軸(X 軸):

定位裝置: 線性伺服馬達(dá)

最大速度:1000mm/sec

重復(fù)精度:+/-0.5um

編碼器分辨率:0.5um

最大掃描區(qū)域:350mm

步進(jìn)軸(Y 軸):

定位裝置:低電磁干擾導(dǎo)軌式步進(jìn)馬達(dá)

分辨率:0.25um

最大掃描區(qū)域:350mm

聚焦軸(Z 軸):

定位裝置:低電磁干擾導(dǎo)軌式步進(jìn)馬達(dá)

分辨率:0.25um

最大行程:50mm

夾具:

JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)尺寸托盤夾具

掃描平臺可固定*的托盤夾具

透射桿探頭固定

機(jī)臺尺寸:

W31xD31xH48’’(約長 79cm*79cm*122cm)

流體系統(tǒng):

循環(huán)泵和 5um 過濾器

超聲波儀器

DPR500 接收器 配置 L2/H4 脈沖發(fā)生器

可選 U4 超高頻脈沖發(fā)生器

其它:

帶腳輪的擺放桌

緊急開關(guān)和安全鎖

較低的取放樣品區(qū)域

其它特色軟件功能選項

TAMI  SCAN: 一次掃描得到最多 200 張斷層圖像

ICEBERG: 強(qiáng)大的離線分析技術(shù)

WinIC Pro: 增加功能和分析

WinIC Offiline:遠(yuǎn)程分析

Waveform Simulator/Beam Emulator :波形仿真器

ECHO 機(jī)臺面板與 WinIC 軟件的組合,給用戶提供一個強(qiáng)大、簡易使用的分析工具。WinIC 軟件是 Sonix 公司研發(fā)的超聲波掃描顯示鏡成像軟件,提供先進(jìn)的圖像分析功能以幫助定量和定性分析圖像數(shù)據(jù)。WinIC 使用大量的圖形和屏幕指導(dǎo)幫助所有用戶,從入門到精通。

SONIX 軟件優(yōu)勢 

● 可編程掃描,自動分析

   定制掃描程序,一鍵開始掃描,自動完成分析,生成數(shù)據(jù)          

FSF表面跟蹤線

   樣品置于不平的情況下,自動跟蹤平面,獲取同一層面圖片          

ICEBERG離線分析

   存儲數(shù)據(jù)后,可在個人電腦上進(jìn)行再次分析

TAMI斷層顯微成象掃描

   無需精確選擇波形,可任意設(shè)定掃描深度及等分厚度,一次掃描可獲得200張圖片,最快速完成分析。

SONIX 軟件 -  應(yīng)用于塑封FlipChipStacked Die產(chǎn)品的成像功能

SONIX-1.jpg





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