ECHO-LS/ECHO-VS 美國SONIX超聲波掃描顯微檢測系統(tǒng)
參考價 | ¥ 1998800 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市泰立儀器儀表有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ECHO-LS/ECHO-VS
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2022/12/1 8:12:57
- 訪問次數(shù) 2510
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超聲波測厚儀,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,超聲波相控陣探傷儀,電導(dǎo)率儀,磁導(dǎo)率儀,汽車車身點焊檢測儀,COMET工業(yè)射線機(jī),工業(yè)內(nèi)窺鏡,工業(yè)CR/DR數(shù)字射線系統(tǒng),熱分析儀
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,電氣,綜合 | 掃描范圍 | 350mm |
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美國SONIX超聲波掃描顯微檢測系統(tǒng)
簡介
全自動超聲波掃瞄顯微鏡, 晶圓檢測設(shè)備 AutoWafe Pro, 封裝檢測設(shè)備ECHO-LS:
SONIX™公司是世界500強(qiáng)丹納赫集團(tuán)(NYSE: DHR)下的全資子公司,是全球超聲波掃描檢測儀和無損檢測設(shè)備的制造商。 自1986年成立以來,SONIX™在無損檢測領(lǐng)域中不斷改革創(chuàng)新,是一家基于微機(jī)平臺,提供全數(shù)字化成像方案的公司。 SONIX™ 一直致力于技術(shù)革新,提供給客戶的聲學(xué)檢測技術(shù)。
SONIX™ 設(shè)備被廣泛應(yīng)用于各種材料的無損檢測,包括半導(dǎo)體,汽車零件和其他先進(jìn)元件。 擁有獨立開發(fā)的軟件,硬件和技術(shù),這么多年來通過和客戶的不斷合作,實現(xiàn)了SAM技術(shù)的持續(xù)改進(jìn)。 SONIX™ 努力提供最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),圖像質(zhì)量,非凡的操作性和設(shè)備的高可靠性,從而為客戶提高效率,節(jié)約成本。
優(yōu)勢
一 、提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)量,使用ECHO 的設(shè)備和軟件:
(1)容易的設(shè)置和使用
(2)工藝過程監(jiān)測
(3)合格/失效分選
(4)專業(yè)認(rèn)證
二、SONIX 掃描探頭頻率范圍從 10MHz 到 300MHz,適合各種類型的應(yīng)用和材料。
三、SONIX Echo-LS 能檢測到小至 0.05um 的缺陷,而且對于bump、疊 die(3D 封裝)、倒裝芯片及各種傳統(tǒng)的塑料封裝等具有的檢測性能。
封裝檢測設(shè)備
ECHO-LS™
ECHO-VS 超聲波掃描顯微鏡
SONIX ECHO VS™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。廣泛應(yīng)用在 Flip chips,Stacked die,Bumped die,Bonded wafers 等。
● 高分辨率下,掃描速度是傳統(tǒng)超聲波掃描顯微鏡的2.5倍
● 波形模擬器(Waveform Simulator)及波束仿真(Beam Emulator)
● 掃描分辨率小于1微米
● 水溫控制系統(tǒng)及紫外殺菌系統(tǒng)超高頻狀態(tài)工作下,信號更穩(wěn)定
ECHO Pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡
全自動生產(chǎn)型:
● 批量 Tray盤和框架直接掃瞄
● 編程自動判別缺陷
● 高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置
● 自動烘干
晶圓檢測設(shè)備 AutoWafe Pro.
SONIX AutoWafer Pro™ 是專為全自動晶圓檢測設(shè)計的機(jī)型,主要應(yīng)用在Bond wafer,MEMS 內(nèi)部空洞、離層檢測,TSV量測方面。
● 使用于200和300mm晶圓
● 符合一級凈化間標(biāo)準(zhǔn)
● Cassette裝載,全自動檢測,支持FOUP或FOSB機(jī)械臂
● 支持200mm & 300mm SECS/GEM協(xié)議
● KLARF輸出文件
Pulse 2™ 信號發(fā)生器/接收器- 適合所有 ECHO & AutoWafer 設(shè)備
● 相對標(biāo)準(zhǔn)的信號發(fā)生器/接收器可獲得 +12dB
● SNR比例(Signal-to-noise Ratio)具備4x 倍進(jìn)展
● 從低層次的背景噪聲中分隔信號
● 產(chǎn)生干凈,清晰的圖像,即使在超高頻的信號轉(zhuǎn)換器
超聲波探頭 - 適合所有 ECHO 系列
Sonix S-series Transducer 超聲波探頭是為了滿足半導(dǎo)體制造商的高要求而設(shè)計的:
● 自家研發(fā)
● 頻率范圍寬闊
● 結(jié)構(gòu)堅固
可調(diào)的托盤夾具 (NEW !!)
配件編號: 600-5100
使用平臺: ECHO LS, ECHO, ECHO VS
應(yīng)用: 基板, 托盤, 晶圓優(yōu)點:
• 方便使用 - 節(jié)省時間
• 樣品被很好的固定起來掃描, 可獲得更好的圖像
• 托盤, 基板, 晶圓均可使用
• 適用于現(xiàn)有的 ECHO 機(jī)型平臺
• 申請中
透射桿擴(kuò)展裝置 (NEW !!)
配件編號: 中尺寸 (180mm) 組件編號: 600-2323A / 全尺寸組件編號 : 600-2324A
使用平臺: ECHO LS, ECHO, ECHO VS
應(yīng)用: 晶圓, 托盤, 基板 優(yōu)點:
• 使用方便 - 安裝簡單, 節(jié)省時間
• 2種尺寸 (180mm and 250mm) 可滿足絕大部分產(chǎn)品尺寸需求
• 適用與現(xiàn)有 ECHO 機(jī)型平臺
• *需要 Sonix 新一代大直徑透射桿
晶圓夾具 (與可調(diào)的托盤夾具搭配使用) (NEW !!)
配件編號: 600-5200
使用平臺: ECHO LS, ECHO, ECHO VS
應(yīng)用: 300mm 晶圓
優(yōu)點:
• 可以簡單的與 Sonix 申請中的可調(diào)的托盤夾具搭配使用
• 安全固定 300mm 晶圓, 提供最佳的成像能力
• 適用于有翹曲的晶圓, 保持晶圓平整
• 適用于現(xiàn)有的 ECHO 機(jī)型平臺
SONIX 軟件優(yōu)勢
● 可編程掃描,自動分析
定制掃描程序,一鍵開始掃描,自動完成分析,生成數(shù)據(jù)
● FSF表面跟蹤線
樣品置于不平的情況下,自動跟蹤平面,獲取同一層面圖片
● ICEBERG離線分析
存儲數(shù)據(jù)后,可在個人電腦上進(jìn)行再次分析
● TAMI斷層顯微成象掃描
無需精確選擇波形,可任意設(shè)定掃描深度及等分厚度,一次掃描可獲得200張圖片,最快速完成分析。
SONIX 軟件 - 應(yīng)用于塑封FlipChip和Stacked Die產(chǎn)品的成像功能
SONIXTM 的Flexible TAMITM設(shè)計
專為需要檢測由不同層厚和材料組成的多層封裝產(chǎn)品,例如:
● 3-D架構(gòu)
● Stacked Die
● Bonded wafers
● Wafer 級封裝 (WLP)
● 塑封Flip Chips
SONIX 硬件優(yōu)勢
● 緊湊、穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計
模塊化設(shè)計使得結(jié)構(gòu)簡單、穩(wěn)定,易于維護(hù)
● 高速、穩(wěn)定的馬達(dá)設(shè)計
掃描軸采用的線性伺服馬達(dá),提供高速、穩(wěn)定、無磨損的掃描
● 超聲波探頭/透鏡
提供精確的缺陷檢驗,最小能探測到僅0.1微米厚度的分層。
● PETT技術(shù)
反射及透射同時掃描,有效提高元器件分析效率
美國SONIX超聲波掃描顯微檢測系統(tǒng)
特點
SONIX Echo-LS 能檢測到小至 0.05um 的缺陷,而且對于 bump、疊 die(3D 封裝)、倒裝芯片及各種傳統(tǒng)的塑料封裝等具有的檢測性能。提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)量,使用 ECHO 的設(shè)備和軟件容易的設(shè)置和使用。
工藝過程監(jiān)測
合格/失效分選
專業(yè)認(rèn)證
SONIX 掃描探頭頻率范圍從 10MHz 到 300MHz,適合各種類型的應(yīng)用和材料。
優(yōu)勢:
減少實驗室空間(占地面積?。?/span>
鍵盤快捷鍵(方便移動操作)
全焊接機(jī)身框架(促進(jìn)平臺穩(wěn)定性)
降低水槽高度(人體工程學(xué)設(shè)計)
可同時進(jìn)行反射掃描和透射掃描
最大 360 度可視
超大掃描面積
水槽底部傾斜(易于排干水)
探頭隨 Z 軸移動(取代托盤上下移動)
可滑動支架
符合歐洲機(jī)械指令
緊湊、穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(低維護(hù))
符合 CE,SEMI S2,NRTL
可滑動的電氣面板(方便維護(hù))
防靜電涂層(安全罩、水槽、門等)
規(guī)格參數(shù):
掃描軸(X 軸):
定位裝置: 線性伺服馬達(dá)
最大速度:1000mm/sec
重復(fù)精度:+/-0.5um
編碼器分辨率:0.5um
最大掃描區(qū)域:350mm
步進(jìn)軸(Y 軸):
定位裝置:低電磁干擾導(dǎo)軌式步進(jìn)馬達(dá)
分辨率:0.25um
最大掃描區(qū)域:350mm
聚焦軸(Z 軸):
定位裝置:低電磁干擾導(dǎo)軌式步進(jìn)馬達(dá)
分辨率:0.25um
最大行程:50mm
夾具:
JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)尺寸托盤夾具
掃描平臺可固定*的托盤夾具
透射桿探頭固定
機(jī)臺尺寸:
W31”xD31”xH48’’(約長 79cm*寬 79cm*高 122cm)
流體系統(tǒng):
循環(huán)泵和 5um 過濾器
超聲波儀器
DPR500 接收器 配置 L2/H4 脈沖發(fā)生器
可選 U4 超高頻脈沖發(fā)生器
其它:
帶腳輪的擺放桌
緊急開關(guān)和安全鎖
較低的取放樣品區(qū)域
其它特色軟件功能選項
TAMI SCAN: 一次掃描得到最多 200 張斷層圖像
ICEBERG: 強(qiáng)大的離線分析技術(shù)
WinIC Pro: 增加功能和分析
WinIC Offiline:遠(yuǎn)程分析
Waveform Simulator/Beam Emulator :波形仿真器
ECHO 機(jī)臺面板與 WinIC 軟件的組合,給用戶提供一個強(qiáng)大、簡易使用的分析工具。WinIC 軟件是 Sonix 公司研發(fā)的超聲波掃描顯示鏡成像軟件,提供先進(jìn)的圖像分析功能以幫助定量和定性分析圖像數(shù)據(jù)。WinIC 使用大量的圖形和屏幕指導(dǎo)幫助所有用戶,從入門到精通。
SONIX 軟件優(yōu)勢
● 可編程掃描,自動分析
定制掃描程序,一鍵開始掃描,自動完成分析,生成數(shù)據(jù)
● FSF表面跟蹤線
樣品置于不平的情況下,自動跟蹤平面,獲取同一層面圖片
● ICEBERG離線分析
存儲數(shù)據(jù)后,可在個人電腦上進(jìn)行再次分析
● TAMI斷層顯微成象掃描
無需精確選擇波形,可任意設(shè)定掃描深度及等分厚度,一次掃描可獲得200張圖片,最快速完成分析。
SONIX 軟件 - 應(yīng)用于塑封FlipChip和Stacked Die產(chǎn)品的成像功能