leeb221 leeb211 leeb230 里博leeb232涂層測厚儀leeb231 leeb222
- 公司名稱 深圳市博斯特電子儀器有限公司
- 品牌 里博
- 型號 leeb221 leeb211 leeb230
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/10/26 15:14:29
- 訪問次數(shù) 1776
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示波器，電子負(fù)載，功率計(jì)，駐波表，萬用表，LCR電橋，無紙記錄儀，電力分析儀，編程電源，頻譜分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
里博leeb232涂層測厚儀leeb231 leeb222
主要功能：
采用磁性和電渦流兩種測量方法，可檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
● 中文菜單；
● 兩種工作方式；
● 數(shù)據(jù)刪除功能；
● 對界限外的測量值能自動報(bào)警；
● 電源欠壓指示；
● 手動和自動兩種關(guān)機(jī)方式
● 兩種測量方式；
● 可儲存500個(gè)測量值；
● 可設(shè)置界限；
里博leeb232涂層測厚儀leeb231 leeb222
技術(shù)參數(shù)：
項(xiàng)目名稱 | Leeb232 | |
測頭類型 | F1和N1 | |
測量原理 | 磁感應(yīng)和電渦流 | |
測量范圍 | 0 ~ 1250um | |
分辨率 | 0.1um | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（3%H+1）um |
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[（1~3）%H+1]um | |
測試條件 | 最小曲率半徑 | 凸1.5mm 凹9mm |
最小面積直徑 | φ7mm | |
基本臨界厚度 | 0.5mm | |
工作環(huán)境 | 溫度 | 0 ~ 40℃ |
濕度 | 20% ~ 90% | |
電源 | AA堿性電池2節(jié) | |
電壓 | 3V | |
工作時(shí)間 | 100小時(shí) | |
外形尺寸 | 130*70*25 mm | |
重量 | 350g | |
外殼材質(zhì) | 金屬外殼 | |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、F1和N1探頭、堿性電池 | |
可選配件 | 標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭 | |
PC通訊 | 有 | |
儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | CN02 | |||||
測量原理 | 磁性 | 渦流 | ||||||||||
測量范圍（μm） | 0～400 | 0～1250 | 0～10mm | 0～400 | 0～12500 | 10～200 | ||||||
測量精度μm | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±（3%H+1） | ±（3%H+10） | ±（3%H+1） | ±（3%H+1.5） | H+1) | |||||
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（1～3％H+0.7） | H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+1.5] | --- | ||||||
低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | 1 | ||||||
最小曲率半徑(mm) | (凸)1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | 僅為平面 | |||||
最小面積直徑(mm) | ￠3 | ￠7 | ￠40 | ￠4 | ￠5 | ￠7 | ||||||
基本臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 | 無限制 | ||||||
測頭選用參考表
覆蓋層基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等） | 非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | |||
覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | ||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積直徑大于30mm | F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm | F1型測頭 F10型測頭 0～10μm | F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm | F1型測頭 F10型測頭 0～10μm |
被測面積直徑小于30mm | F400型測頭0～400μm | F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm | F400型測頭0～400μm | F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm | |
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | 被測面積直徑大于10mm | N1型測頭0～1250μm N400測頭0～400μm | 僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm | ||
被測面積直徑大于10mm | N400測頭0～400μm | N400測頭0～40μm | |||
塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測面積直徑大于7mm | -- | -- | CN02型測頭10～200μm | |
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