XD-1000 多鍍層檢測儀
- 公司名稱 深圳喬邦儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 XD-1000
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/4/28 10:49:42
- 訪問次數(shù) 851
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產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),電子,印刷包裝 |
1、儀器概述
XD-1000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于:多金屬鍍層(鍍鎳、鍍鋅、鍍銅、鍍金、鍍銀等)的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
多鍍層檢測儀性能優(yōu)勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
*圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果
多鍍層檢測儀技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩(wěn)定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃
4、測試實例
在保證計數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素,大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。
某國外儀器檢測譜圖
11次測量結果(Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據對比如下:
次數(shù) XD-1000 行業(yè)內其他儀器
1 0.042 0.0481
2 0.043 0.0459
3 0.043 0.0461
4 0.0412 0.0432
5 0.0429 0.0458
6 0.0436 0.0458
7 0.0427 0.0483
8 0.0425 0.045
9 0.0416 0.0455
10 0.0432 0.0485
11 0.0422 0.043
平均值 0.0425 0.0459
標準偏差 0.0007 0.0019
相對標準偏差 1.70% 4.03%
極差 0.0024 0.0055
1、儀器概述
鍍層膜厚是電鍍產品的重要技術指標,關系到產品的質量以及生產成本。XD-1000鍍層測厚儀是喬邦集多年的經驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款膜厚測試儀器,配備移動平臺,可全自動軟件操作,并進行多點測試,檢測結果更加精準。
2、性能優(yōu)勢
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
3、技術指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩(wěn)定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg
4、測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用XD-1000儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度,七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試,其測試位置如圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖
樣 品 名 成分Ni(%) 鍍層Ni(um)
吊扣 100 19.321
吊扣2# 100 19.665
吊扣3# 100 18.846
吊扣4# 100 19.302
吊扣5# 100 18.971
吊扣6# 100 19.031
吊扣7# 100 19.146
平均值 100 19.18314
標準偏差 0 0.273409
相對標準偏差 0 1.425257
銅鍍鎳件測試值
結論
實驗表明,使用XD-1000儀器對鍍件膜厚測試,結果準確度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。