APD管iv性能分析數(shù)字源表

擊穿電壓是指當(dāng)沒有輸入光輸出電流為10uA時(shí)對(duì)應(yīng)的電壓，大多在40V至60V范圍，有些甚至要求高達(dá)80V。

暗電流是指當(dāng)沒有輸入光偏置電壓使用0.9倍擊穿電壓時(shí)的輸出電流，暗流很小一般在幾個(gè)nA。

APD管iv性能分析數(shù)字源表簡(jiǎn)介
S系列源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的*國(guó)產(chǎn)化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，最大輸出電壓達(dá)300V，最小電流分辨率10pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中:半導(dǎo)體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機(jī)材料與納米材料等特性測(cè)試和分析。

產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作

內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV

源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5位半

四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：高至300V，低至10pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

S系列源表技術(shù)參數(shù)

最大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：電壓源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

電流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

過量程： 105%量程，源和測(cè)量；

穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；

線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗1KΩ，輸出電壓偏移<80uV；

最大采樣速率：1000 S/s；

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太網(wǎng)；

電源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作環(huán)境：25±10℃；

尺寸：106mm高 × 255mm寬 × 425mm長(zhǎng)；

APD管iv性能分析數(shù)字源表應(yīng)用

•分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

•能量與效率特性測(cè)試，LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等

•傳感器特性測(cè)試，電阻率、霍爾效應(yīng)等

•有機(jī)材料特性測(cè)試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等

•納米材料特性測(cè)試，石墨烯、納米線等