QUANTAX Micro-XRF 布魯克 Micro-XRF On SEM 光譜儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 昆山瑞塞奇精密儀器有限公司
品牌 Bruker/布魯克
型號(hào) QUANTAX Micro-XRF
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時(shí)間 2022/3/25 15:39:13
訪問次數(shù) 1801

產(chǎn)品標(biāo)簽

布魯克光譜儀價(jià)格布魯克光譜儀廠家布魯克光譜儀型號(hào)

在線交流發(fā)送詢價(jià) 查看電話同類產(chǎn)品

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹 主營產(chǎn)品

昆山瑞塞奇精密儀器有限公司 主營電子顯微鏡及其周邊附屬設(shè)備、實(shí)驗(yàn)室分析檢測儀器，有數(shù)名10年以上經(jīng)驗(yàn)的工程師團(tuán)隊(duì)，技術(shù)高超，值得信賴！與歐美儀器設(shè)備企業(yè)長期保持緊密合作關(guān)系，為客戶提供高性價(jià)比的產(chǎn)品選擇，優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)支持。

企業(yè)文化：

科技是企業(yè)持續(xù)發(fā)展的源泉，誠信是企業(yè)和員工立足之本。公司通過各種有益培訓(xùn)使得員工具有良好的職業(yè)素養(yǎng)和職業(yè)技能，努力給客戶帶來好的服務(wù)體驗(yàn)。

服務(wù)項(xiàng)目：

SEM&EDX&Ion Sputter&Ion milling設(shè)備銷售以及二手產(chǎn)品的回收、置換、租賃
及以上設(shè)備安裝、調(diào)試、維修、保養(yǎng)、教育訓(xùn)練、應(yīng)用培訓(xùn)
相關(guān)備品配件銷售

服務(wù)時(shí)效：

電話：兩小時(shí)內(nèi)響應(yīng)
到達(dá)現(xiàn)場：24小時(shí)內(nèi)

展開

掃描電子顯微鏡，分析儀器，能譜儀，鍍金機(jī)及其周邊附屬設(shè)備

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

分析含量范圍	10ppm	價(jià)格區(qū)間	面議
能量分辨率	121、123、126、129eVeV	行業(yè)專用類型	通用
儀器種類	臺(tái)式/落地式	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,電子,航天,電氣,綜合
元素分析范圍	B (5) to Am (95)	重復(fù)性	NA

布魯克 Micro-XRF On SEM 光譜儀存在一系列不同的分析技術(shù)，以便從代表單一礦物相的較小區(qū)域獲取地球化學(xué)信息。常見的分析技術(shù)基于電子束（e-beam）源，即電子探針微分析儀（EPMA）或帶有能量分散光譜儀的 SEM（SEM - EDS)。

同樣，Micro-XRF分析可被視為電子束激發(fā)的補(bǔ)充技術(shù)，它也提供小區(qū)域樣本信息。Micro-XRF 基于光子激發(fā)，樣品會(huì)直接通過 X 射線（(X-Ray-beam）發(fā)生作用，與傳統(tǒng)的基于電子束的系統(tǒng)相比，X 射線束具有明顯的差異?，F(xiàn)代 X 射線多面體光學(xué)的可用性使 X 射線能夠聚焦到小于 30μm 的點(diǎn)大小，并且所有光片都包含在XTrace，可安裝在可用SEM端口上的XRF源（圖1）。這導(dǎo)致顯微鏡系統(tǒng)具有雙光束的潛力，即電子束和X射線束。因此，可以使用與電子束系統(tǒng)類似的參數(shù)操作 Micro-XRF 系統(tǒng)，從而產(chǎn)生與傳統(tǒng)點(diǎn) SEM-EDS 分析相媲美的結(jié)果，同時(shí)從X射線光束樣本相互作用中獲取其他信息。

布魯克 Micro-XRF On SEM 光譜儀是利用掃描電子顯微鏡（SEM）對(duì)傳統(tǒng)能量分散光譜（EDS）分析的一種互補(bǔ)的無損分析技術(shù)。這種分析對(duì)于在未知樣本中描述元素成分非常重要，從大厘米大小的同構(gòu)標(biāo)本到小微米顆粒。

X射線激發(fā)對(duì)微量元素檢測（某些元素的靈敏度低至10ppm）、擴(kuò)展的 X 射線光譜范圍（高達(dá) 40 keV）以及樣本中更深入的信息具有更高的靈敏度。

配備X射線管，結(jié)合微聚焦X射線光學(xué)，可產(chǎn)生30μm的小點(diǎn)大小，具有高強(qiáng)度信號(hào)產(chǎn)額。

模塊化的壓電陶瓷piezo-based stage，專門設(shè)計(jì)安裝在現(xiàn)有的SEM階段之上，使高速元素X射線秒掃描mapping"“on the fly"大面積高達(dá)4毫米/秒的速度。這使X射線映射數(shù)據(jù)能夠在50x50 mm（或更高）的樣本大小上采集，將光元素光譜數(shù)據(jù)以及微量元素和/或更高能量X射線數(shù)據(jù)整合到快速且用戶友好的工作流中。

X射線激發(fā)的更大深度允許多層系統(tǒng)從1納米開始，范圍高達(dá)40μm，這是不可能被電子激發(fā)出來的。